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製程精密度的解釋 : 第一級 Cp 1.67：產品變異如大一些也不要緊，考慮管理的簡單化或成本降低方法。 第二級 1.67 ＞ Cp 1.33：理想的狀態故維持現狀。 第三級 1.33 ＞ Cp 1.00：確實進行製程管理，使其能保持在管制狀態，當Cp 值近於1時，恐怕會產生不良品，儘可能改善為第二級。 第四級 1.00 ＞ Cp 0.67：產生不良品，產品須全數選別，並管理改善製程。 第五級 0.67 ＞ Cp：品質無法在滿足的狀態，須進行品質改善、探求原因、採取緊急對策，並重新檢討規格。 Cpk— 製程能力指數(綜合指數) 等級評定後之處置原則(Cpk等級之處置) A級:此一製程能力足夠。 B級:製程能力尚可。 C級:製程能力應加以改善。 製程能力的解釋 : 抽樣點落在規格內的機率 雙邊規格 製程能力指數則定義為Z的1/3也就是 Z = 最小值 單邊規格 或 Cpk = 1, 製程良率 = 99.865% Cpk = 1.33, 製程良率 = 99.9967% = 製程能力的解釋 : 第一級 Cpk 1.67：量測值落在規格內的機率接近100%。 第二級 1.67＞ Cpk 1.33：量測值落在規格內的機率為99.997% 至 100%。 第三級 1.33＞ Cpk 1.00：量測值落在規格內的機率為99.865% 至 99.997%。 第四級 1.00＞ Cpk 0.67：量測值落在規格內的機率為97.725% 至99.865%。 第五級 0.67＞ Cpk ：量測值落在規格內的機率小於97.725%。 Cpk計算的實戰演練 (Refer to P43) 管制圖的种類及選擇 (1)計量值 Xbar-R管制圖 品質數據可以合理分組時，為分析或管制製程平均使用Xbar-管制圖，對製程變异使用R-管制圖 最常用的計量值管制圖 X-R管制圖 X-管制圖檢出力較差，但計算較為簡單 Xbar-S管制圖 S-管制圖檢出力較R管制圖大，但計算麻煩 一般樣本大小n10使用R管制圖，n10使用S管制圖 X-Rm管制圖 品質數據不能合理分組時，如液体濃度 能夠合理分組時，為了提高檢出力，盡量使用Xbar-R管制圖 ~ 第五章 管制圖的原理与應用 (2)計數值 P-管制圖 分析或管制製程不良率，樣本大小n可以不同 NP-管制圖 分析或管制製程不良數，樣本大小n要相同 C-管制圖 分析或管制製程不良數，樣本大小n要相同 U-管制圖 分析或管制製程單位缺點數，不良率，樣本大小n可以不同 計量值管制圖的繪制 (1)收集數據 選擇管制特性 能測定的產品或製程特性 与客戶使用及生產關系重大的特性 對下工序影響較大的特性 經常出問題的特性 關鍵製程的特性 決定樣本大小n及抽樣間隔 n約在2~5個之間，不宜太大 同一組的數據最好在同一生產條件及同一短時間內取樣 初期解析的製程最好在較小的的間隔連續取樣，管制狀態下之製程可加長其間隔 每組樣本可識別日期、時間等 不影響生產及可接受的成本下 決定樣本組數 足夠的樣本組數以保証製程的主要變异有机會出現 25組以上的樣本以檢定製程的穩定及估計製程特性的平均數及標準差 (2)計算每組的平均、每組的全距、總平均、全距平均 (3)計算管制界限 UCLXbar= (Xbar)bar + A2Rbar CLXbar= (Xbar)bar LCLXbar= (Xbar)bar - A2Rbar UCLR= D4Rbar CLR=Rbar UCLR= D3Rbar (4)繪制管制界限及描點 (5)解析製程 (6)製程能力研究 (7)延長管制界限開始管制 計量值管制圖的繪制 “查找异因、采取措施、保証消除、納入標準” X 及R - Chart : 1.樣本大小：通常為2至5，樣本大小必須能反映出目前製程的狀態。 2.抽樣頻率：管制的目的是要偵測出製程的變化，因此抽樣頻率的選擇必 須能反映出製程可能變化的時機，如換機種時、作業員精神較差時。 3.抽樣數：抽樣數愈多愈能反映出製程實際的情形，一般而言25以上才足夠。 R = X(最大) — X(最小) = = = 樣本點 : 中心線 : 上界限: 下界限: R – Chart 之解釋 : 如果樣本點落在管制界限的上方，或連續7點都在中心線的上方，或連續7點增加，代表 生產的變異程度增加了。 量測系統的改變(不同的檢驗員及量具或量具偏移) 。 計算錯誤或標圖錯誤。 如果樣本點落在管制界限的下方，或連續7點都在中心線的下方，或連續7點遞減，代表 生產的變異程度降低了。(變好了) 量測系統的改變(不同的檢驗員及量具或量具偏移) 。 計算錯誤或標圖錯誤。 X