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SPC 簡介 P Prepared By: nanfeng SPC的源起 SPC是奠基于1910年代費雪爵士 Sir Ronald Fisher 所發展出來 的理論,1924年修華特博士 Dr.W.A.Shewhart 在貝爾實驗室研究 產品品質特性之次數發現了管制圖,1931年修華特博士出了一本 ,1932年英國邀請修華特博士到英國主 講管制圖,而提高了英國將統計的方法應用到制造業的氣氛.1939 年戴明博士 Dr.Deming 與修華特博士到英國合作出了本 .1940年前后英美兩國將管制圖的方法引進制 造業,效果顯著被各業界認同.二戰中戴明發展SQC Statistical Quality Control -統計品質管制的現代面貌. 二戰中美國軍方推廣應用統計方法,分析來自武器制程的數據以改善武器品質.1948年日本JUSE 日本科技聯盟 邀請戴明到日本演講,1950年戴明到日本做八日品質管理演講會,從此之后,日本就利用SQC的技朮與觀念來提升其產品的品質與生產力,同時降低生產成本,在國際市場展露 頭角.80年代美國汽車工業界將SQC的理論與觀念應用到制造程序中,進而發展出SPC-統計制程管制的理論與實務. 何謂SPC? ●統計製程管制 Statistical Process Control 。利用統計方法來管制製程的技術。 ●SPC定義 。經由製程去收集資料,而加以統計分析,並從分析中得以發覺製程的常,經由問題分析以發掘異常的原因,並針對異常原因立即採取改善措施,使製程恢復正常。 維持 。透過製程能力調查與標準化,不斷提升製程能力。 改善 ● SPC應用 。狹義的SPC:在製程中檢查品質,並辨認其形成品質不良之原因為機遇 原因或非機遇原因,它的基本工具為「管製圖」 。 。 藉製程能力調查以改進製程能力,不斷地減低產品品質的變異性,以提升產品品質;至於製程能力的改進則是反應於管製界線 由寬而窄 , 及製程能力指數發生的變化上。 ●銷售方面 。檢驗品質均勻度增加,又可提供更多產品統計訊息給顧客,顧客便會更樂於 與我們合作。 SPC應用之困難 1.??? 少量多樣之生產型態，不勝管制。 2.??? 管制計畫不實際，無法落實。 3.??? 使用SPC前未作充分準備。 例如：製程及管制特性之確定，決定量測方法，數據如何收集 等。 4.??? 欠缺統計技術。 5.??? 統計計算太過繁瑣費時。 6.??? 量測數據之有效數字位數未標準化。 7. 管理階層不支持。 SPC導入流程 管制圖導入流程 X – R繪圖步驟 1.將每樣組之與Ｒ算出記入數據表內。 2.求X與Ｒ X＝?X/K 1254/25 50.16 R＝?R/K 120/25 4.8 3.查係數A2，D4，D3 A2＝0.58，D4＝2.11，D3＝負值（以0代表） 4.求管制界限。 1 管制圖 CLX＝X＝50.16 UCLX＝X＋A2Ｒ＝50＋ 0.58 * 4.8 ＝52.93 LCLX＝X－A2Ｒ＝50.16－ 0.58 4.8 ＝47.39 2 R管制圖： CLR＝R＝4.8 UCLR＝D4R＝ 2.11 * 4.8 ＝10.13 LCLR＝D3R＝ 0 * 4.8 ＝0 5.將管制界限繪入管制圖 6.點圖 7.檢討管制界限 X – R管制圖 P管制圖 不良率 1.公式 1 公組樣本大小n相等時： CLP＝ UCLP＝P＋3 LCLP＝P－3 2 n不等，且相差小於20%時： CLP＝ UCLP＝ P＋3 LCLP＝ P－3 3 n不等，且相差大於20%時： CLP＝P UCLP＝P＋3 LCLP＝P－3 2.實例 某工廠製造外銷產品，每2小時抽取100件來檢查，將檢查所得之不良品數據，列於下表，利用此項數據，繪製不良率 p 管制圖，控制其品質 P管制圖繪圖步驟 1.求管制界限 CL＝P＝0.05＝5% UCL＝P+3 ＝11.54% LCL＝P－3 （為負值，視為0） 2.點繪管制圖 U Chart 單位缺點數管制圖 1.用途:用於缺點之管制,但其檢查單位 樣本 不相同 2.收集數據:取不同單位之樣本20-25組 如單位面積,單位長度,單位時間等 ,如能預測其缺點數大小,則使每組含1-5個缺點為佳. 3.管制界限之計算: CLu u ?c/ ?n UCLu u+ u / n UCLu u+ u / n 計量值管制圖常用之係數表 常態分配統計量抽樣分配常數表 管制圖的判定方法 正常點子之動態之管制圖，如圖一。 1.?? 多數的點子，集中在中心線附近，且兩邊對稱。 2.?? 少數的點