TR518系列育训练_V01.doc

一．ICT概况 1. 何谓ICT？ ICT即是In Circuit Tester的简称，主要用于组装电路板的测试。ICT可以视为一部自动化的高级电表，并且因它具有隔离组件的功能，能准确测量每一组件在电路内的实际值。 2. ICT与电表功能的差异 电表是用以量测单一零件，而ICT除了可量单一零件外，更可经由针床来量测实板上的零件。只是实板上有许多回路，易将信号源与以分流、分压，故往往需加”Guarding”功能，才可使量测准确。 3. ICT能测些什么？ 开、短路，电阻，电容，电感，IC保护二极管测试（含二极管，三极管， Zener，IC）等。 ICT与ATE有何差异？ ICT只做静态测试，即无电源测试，实板不需加电源；而ATE可做动态测试。即ATE之目的为测试实板及板上零件之功能是否正常，故实板必须加电源才可使板上的零件工作。尤其ATE在送信号时，特别要考虑零件的特性、规格，否则易损坏零件。 二. ICT量测原理 电阻量测 (1) 单个R （Mode 0,1） 利用Vx=IsRx（欧姆定律），则Rx=Vx/Is. 信号源Is取恒流 (0.1uA—5mA), 量回Vx. 即可算出Rx值. (2) 小电阻(50欧姆以内)四线量测：小电阻两端各下两支探针，1-4号探针的接触阻抗分别R1-R4, Ra,Rb,Rc,Rd分别为四次测试之量测值. (3) R//C(mode2) 信号源Vs取恒压（0.2V），量回Ix， Rx=Vs/Ix=0.2V/Ix， 算出Rx值. (4) R//L(mode3,4,5): 信号源取交流电压源Vs，用相位法辅助. |Y’|Cosθ=YRx=1/Rx, 并|Y’|=I’x/Vs, 故：Rx=1/|Y’|Cosθ 2. 电容及电感量测 单个C,L（Mode0,1,2,3）：信号源 取恒定交流压源Vs, Vs/Ix=Zc=1/2лfCx 求得：Cx=Ix/2лfVs Vs/Ix=Zl=2лfLx , 求得：Lx=Vs/2лfIx （2）C//R或L//R（Mode 5,6,7）：用相位法辅助，|Y’|Sinθ=|Ycx|, 即ωCx’Sinθ=ωCx 求得：Cx=Cx’Sinθ，(Cx’=Ix’/2лfVs) |Y’|Sinθ=|Ycx|, 即Sinθ/ωCx’=1/ωCx 求得：Lx=Lx’/Sinθ，(Lx’=Vs/2лfIx’) 電容極性測試的另一方法是三端測試, 須在上方加一探針觸及殼體. 在電容的正負極加載直流電壓, 至充飽后測量殼體電壓. 由于正負極與殼體間的阻抗差異, 故對于插反的電容所測量到的殼體電壓會與正確時不同. 據此可判別電容的極性.（详见附页一） 3.跳线测试：（UMPER, FUSE, WIRE, CONNECTOR, SWITCH, etc） 4. 量测PN结：（D,Q,IC,FET） (1)信号源0-10V/3mA or 30mA可程式电压源, 量PN结导通电压; (2)Zener D的测试原理是量测其崩溃电压，与二极体的差异是在测试电压源不同,其电压源为0V-10V及0V-48V可程式电压源. (3)电晶体测试需要三步骤测试，其中(1)B-E和(2)B-C脚是使用二极体的测试方法,(3)E-C使用Vcc的饱和电压值及截止值的不同，来测试电晶体是否插反. 电晶体反插测试方法：在B-E及E-C 脚两端各提供一个可程式电压源，量测出电晶体E-C正向的饱和电压为Vce=0.2V左右，若该电晶体反插时，则Vce电压将会变成截止电压，并大于0.2V，即可测出电晶体反插的错误. 5. 量测Open/Short： 即以阻抗判定,先对待测板上所有Pin点进行学习,R25Ω即归为Short Group，然后Test时进行比较，R5Ω判定为Short，R55Ω判为Open. 6. Guarding(隔离)的实现： 以电流源当信号源输入时，則在相接元件一的另一腳加上一等高電位能(Guarding Point)，以防止電流流入與被測元件相接的旁路元件，確保量測的精準性。此時隔離點的選擇必須以和被測元件高電位能腳(Hi-Pin)相接之旁路元件為參考範圍. 以电压源当信号源输入时，則在相接元件二的另一腳加上一等底電位能(Guarding Point)，以防止與被測元件相接之元件所產生的電流流入，而增