实验七门电路和组合逻辑电路的设计概述.pptVIP

1 实验目的 3 实验内容与步骤 2 实验设备 实验目的 掌握 TTL集成与非门的逻辑功能的测试方法 掌握 用与非门构成其他常用门电路的方法 熟悉 数字电路试验箱的结构，基本功能和使用方法 熟 悉 用74LS00和74LS86设计一个半加器，并测出其真值表 实验设备 序号 名称 型号与规格 数量 1 数字电路实验箱 THD-1 1 2 二输入四与非门 74LS00 1 3 二输入四异或门 74LS86 1 找到实验箱上74LS00与74LS86的位置，观察芯片安装方向。 芯片插座 1、检查芯片 2、观察数字电路实验箱 电源开关 输出显示 芯片电源：+5V地 芯片输入信号：高、低电平 3、集成逻辑门的引脚排列 将74LS00芯片接通电源，选择一个“与非”门接入输入信号，输出信号接到发光二极管显示电路，测试与非门的逻辑功能。 4、测试74LS00与非门和74LS86异或门的逻辑功能 输入 输出 A B Y1 Y2 0 0 0 1 1 0 1 1 74LS00与非门测试线路 再将芯片换成74LS86，测试其功能。 5、用“与非”门实现其他逻辑门 1 “非”门 Y3 A 2 “或”门 Y4 A+B B A Y4 1 2 3 4 5 6 9 10 8 Y3 A 1 2 3 输入 输出 A Y3 0 1 输入 输出 A B Y4 0 0 0 1