晶体光学基础与单偏光系统解析.pptVIP

斜方晶系(左)单斜晶系(右)光性方位示意图 三个主轴与三个结晶轴重合 结晶轴b与三个主轴之一重合 三个主轴与三 个结晶轴斜交 三斜晶系光性方位示意图 第二章 偏光显微镜 一. 偏光显微镜的构成 机械系统. 光学系统. 附件 (一). 机械系统主要部件 (1). 镜座与镜臂: 支撑显微镜及连接光源,物台,镜筒 . (2). 镜筒: 连接目镜和物镜的部件. (3). 物镜转换器: 用于安装,选择不同倍数的物镜. (4). 载物台: 放置薄片用的可3600转动的圆形平台 (5). 焦准设备(升降系统): 分粗调和微调.调节焦距. (6). 聚光镜架:连接聚光镜,下偏光镜,上锁光圈等的部件 (7). 上,下锁光圈: 控制光的通过量. 一. 偏光显微镜的构成 (二). 光学系统主要部件 (1). 光源: 分为自然光源和人工光源. (2). 下偏光镜: 在聚光镜架底部,作用是把自然光转变为偏光. (3). 聚光镜:在聚光镜架上部. 作用是把偏光转变为锥光. (4). 物镜: 由多组透镜组成,连接在物镜转换器上,是决定放大 倍 数及成像质量的重要部件.按放大倍数分为三类: 高倍镜 40? 100 ? 中倍镜 10 ? 20 ? 低倍镜 2.5? 4 ? 有关术语:前透镜,后透镜,孔径角,数值孔径 一. 偏光显微镜的构成 (二). 光学系统主要部件 (5). 目镜:由眼透镜和场透镜组成.目镜中附有十字丝.倍数 有10 ?和8 ?两种. (6). 上偏光镜: 位于目镜和物镜之间.振动方向与下偏光镜 振动方向垂直.可自由的推入或拉出. (7). 勃氏镜:位于目镜和上偏光镜之间,可自由的推入或出, 与聚光镜和高被镜配合使用. (三). 附件 必备附件:石膏试板(?), 云母试板(?/4),石英楔(1-3级) 二.偏光显微镜的调节与校正 (1). 选择并装配物镜和目镜. (2). 焦准. (3). 物镜中心的校正. (4).下偏光镜的检查. (5).上偏光镜的检查 三.偏光显微镜的养护(P40) 第二章 偏光显微镜 第三章 单偏光系统下晶体的光学性质 单偏光系统的构成 在只使用下偏光镜(起偏镜)的情下， 观察和测定矿物的光学性质的系统。 单偏光系统的光路图 (附图说明） 单偏光系统光波通过晶体的光路图 其它切面: PP与晶体光率体椭圆半径之一平行 均质体或非均质体垂直光轴切面 下偏光镜 P P 下偏光镜 晶体切片 P P 下偏光镜 晶体切片 P P 晶体切片 下偏光镜 其它切面: PP与晶体光率体椭圆半径斜交 主要内容 矿物的直观（外表）特征 （形态、解理等） 与矿物吸收性有关的光学性质: （颜色、多色性、吸收性等） 与矿物折射率有关的光学性质 （突起、闪突起、 糙面、边缘、贝克线、色散线等） 一. 矿物的形态 (1) 控制因素： 矿物成分,内部结构,物化条件,晶出顺序. (2) 观察内容： a.自形程度：自形晶,半自形晶,它形晶. b.单体形态：粒状,针状,板（条）状、柱状、片状 c.集合体形态：纤维状,放射状,球粒状,网状,交生状,雏晶状 (3) 观察方法 综合不同切面特征,正确判断矿物的单体形态 一. 矿物的形态 同一单体不同切面形态示意图 二. 解理及解理夹角 解理在薄片中的表现形式 沿一定的方向平行排列的细缝(解理缝)。缝中为树胶所充填，因矿物的折射率与树胶不同而使解理缝得以显现。 解理等级的划分 (1) 极完全解理：解理缝细而密集,贯穿整个晶体。 (2) 完全解理：解理缝清楚，缝较稀，不完全贯穿晶体。 (3) 不完全解理：解理缝宽而稀疏,不清楚,断续通过晶 注意解理与矿物裂纹的区别 二. 解理及解理夹角 影响解理缝清晰程度的因素 (1)矿物解理的完善程度。 (2)切片的方向。 (3)矿物折射率和加拿大 树胶折射率差值。该 差值决定了解理缝的 可见临界角。 a b a α 解理缝宽度与切片方向变化示意图 判断解理等级和组数时, 注意综合观察多种切片. 二. 解理及解理夹角 解理夹角的测定 1、切片方向的选择 A C B D E H F G K =60