用失效捕捉法测试AC 参数.docVIP

用失效捕捉法测试AC参数* 郭士瑞 冯建科 高 剑 (北京自动测试技术研究所, 北京 100088) 摘 要: 本文介绍了数字集成电路测试系统的工作原理, 提出了两种AC参数的定量测试方法:二分步长测试和on the fly测试。通过预先设置驱动/比较时间和测试向量、执行功能测试、从结果存储器获取“通过/失效”结果, 可以计算出AC参数的量值。测试一个AC参数,二分步长测试方法需多次执行测试向量, on the fly测试法仅需执行一次测试,但要求测试系统具备on the fly资源。两种方法的测试精度相同,均能有效解决AC参数的定量测试,后者更适于高速器件的测试。文中介绍的方法在BC3192集成电路测试系统上对MAX488器件进行测试, 在250 kHz的测试频率下,两种方法测得的tSKEW参数结果近似相等,具有很好的一致性。 关键词: AC参数测试；二分法；失效捕捉法；集成电路测试系统 中图分类号: TP206　　　文献标识码: A　　　国家标准学科分类代码: 510.3010 AC parameters test by failure capture methods Guo Shirui Feng Jianke Gao Jian (Beijing Automatic Test Technology Institute, Beijing 100088, China) Abstract: This paper introduces the principle of digital IC test system, and develops two quantitative methods to test AC parameters: step-dichotomy test and on the fly test. By presetting the driving/comparing time and vectors, then starting with the IC functional testing, the value of AC parameters can be figured through acquiring the PASS/FAIL results from the capture memory. It needs multi-executions of vectors to test an AC parameter by step-dichotomy test method, but only one execution by on the fly test, which requires test system with on the fly resources. They have the same test accuracy and can be an effective solution to AC quantitative test, and the later is more suitable for high-speed device test. The two methods have been applied to MAX488 in BC3192 IC test system with 250 kHz testing frequency, the test results of tSKEW parameter are approximately equal and have good consistency. Keywords: AC parameter test; dichotomy; failure capture method; IC test system 1 引 言 数字集成电路的测试通常分为3部分: 功能测试、DC参数测试和AC参数测试。功能测试是用来对被测对象的逻辑功能进行测试, 以测试向量的形式向被测对象的输入端施加逻辑“0”或“1”信号, 并监测被测对象的输出端, 与期望值相比较, 从而判断被测对象的功能是好是坏。DC参数测试是指将被测对象预置成一定状态后, 用测试系统的精密测量单元对被测引脚施加电压或电流等测试条件, 测量电流或电压, 如输出高电平电压VOH、器件的电源电流Icc等。AC参数反映的是被测对象的时间特性, 例如, 传输延迟时间反映因输入端信号变化而引起输出端状态变化的时间[1], 在常规的测试中, 往往采用Go/No Go测试方法来测试AC参数, 也就是把AC参数测试与功能测试结合起来, 按被测对象的AC参数要求, 在功能测试中设定相应的激励时间格式和响应时间, 如果被测对象的时间特性不好, 那么功能测试一定会失效, 这样就