散斑干涉实验.docx

散斑干涉实验摘要：简述散斑形成原因以及散斑干涉实验原理，并以具体实验现象描述散斑的性质和特点，掌握散斑和离面散斑的测试方法。实验目的了解散斑的性质及特点掌握散斑和离面散斑的测试方法实验原理散斑的形成图 1 激光散斑形貌相干光照射在粗糙表面(如金属表面)毛玻璃或折射率无规涨落的介质上则会?明暗相间亮斑和暗斑，即散斑 (Speckle)。物理起源为：当相干光照射在粗糙面上，粗糙面上每一个点均相当于一个子波源。它们都会发出散射光，从而形成了多点光源的散射光干涉。要形成散斑且散斑质量较好必须具备以下条件：有能发生散射光的粗糙表面；粗糙表面深度须大于入射光波长；入射光线的相干度要足够高，如使用激光。图 2 客观散斑的形成散斑作为粗糙面散射所形成的图样，包含着粗糙表面的信息，包括粗糙表面本身，形状以及位置的变化等。散斑的大小散斑颗粒的大小，可用它的平均直径来表示，颗粒尺寸的严格定义是两相邻亮斑间距离的统计平均值。此值由产生散斑的激光波长及粗糙表面圆型照明区域对该散斑的孔径角决定：图 3 主观散斑原理图上式说明散斑的大小粗略对应于散射光的干涉条纹间距。散斑的形状与照明区域的形状有关，若照明区域增大则散斑变小。上面所讲的散斑是由粗糙表面的散射光干涉而直接形成的，称为客观散斑(如图2所示)。若经过一个光学系统，在它的像平面上形成的散斑，称为成像散斑，亦称主观散斑（如图3所示）：成像平面上P点的散斑直径σ，决定于透镜出射光瞳对P点的孔径角u’，即：其中NA为透镜的数值孔径，M是透镜的放大率。主观散斑是物面上的散斑图像成像所得，这个物方散斑图的平均直径用S表示：散斑的光强分布正常散斑图是杂乱无章的随机散斑图，其强度分布为负指数概率密度函数。概率最大的强度趋于零，即黑散斑比其他强度的散斑都多。 若把来自同一光源的均匀亮度的参考光束加到散斑场上参考光方向必须沿形成散斑的光束方向，该参考光会影响散斑的大小与强度分布。当引入较强的参考光时由于产生主干涉现象，干涉条纹间隔加倍，散斑直径也加倍。离面位移（形变）的散斑测量设A1、A2分别是被测场M1与参考面M2产生的散斑场在P点上的振幅。P点合成振幅为A1+ A2，强度取决于A1、A2的位相。当物体M1位移（或变形）后，若位相差的改变为2 ，4 ，……相应的程差改变为 ，2 ，……，变形前后的散斑场强度一致，称为相关。若程差改变为 /2，3 /2，……，亮散斑变为黑散斑，称为不相关。将变形前后的图像拍下来，对两幅散斑图像进行相减，可得相关位移信息。RMS值和pv值实验软件可以得出关于面型的参数。面型是光学制造中的重要精度指标之一，简单来说是表面不平整度。面型的两个参数PV和RMS值，PV是表示表面的最高处与最低处的差值，RMS值是表面高低的平均值。Em是测量的最大值与均方根值之差，即实验用具与装置图实验用具：激光器、金属片、平面反射镜、分光棱镜、CCD光电接收器、透镜、衰减器，可调光阑，扩束镜。实验装置：图 4实验光路图实验步骤打开激光多功能光电测试实验仪的电源（CSY-10L型），激光器开至Ⅲ档迅速起辉，等待约10s，激光光强稳定，回拨至Ⅰ档。检查CCD光电接收器上的电信号灯是否亮。按照图4，把所需仪器装在对应的位置，注意图中2、3、4、5、6的位置已经调好。把可调光阑的位置调到成像透镜的后焦面上，孔径调到最小。用纸挡住散斑样品（分别为钢片、铝片、铜片）的光束，然后调节参考平面镜工作台的俯仰角度，微调旋钮，使其反射的光束入射到光阑的孔径之内，再反过来用同样的方法调节散斑样品的反射光入射到光阑内，并使两束光会聚的焦点重合。打开软件csylaser，选择实验类型A，按“活动图像”键。调节CCD的位置使条纹清晰后锁定它，使光强适中。微调工作台10、11的微调旋钮使干涉条纹清晰，然后调节11上的测微螺杆或在csylaser上按 “PZT自动扫描”的“开始”键，使反射镜产生轴向位移，并观察条纹平移。若条纹有明显平移现象，则表明调节成功，否则得重调光路。打开软件wave，点击“实时采样”按钮打开采样窗口，选择扫描周期为1，扫描步数为8，再点击“采样”，扫描完毕后按“返回”键，返回主界面，并保存扫描图片。旋进工作台10的旋进按钮，使散斑样品产生微弱位移，然后再重复步骤4~6。点击工具栏上的“工具”菜单，选择“波面相减”键，打开刚才保存的文件1，得到所要的形变量的图，保存它的综合数据图。实验记录与分析调节光路，使粗糙表面与参考表面的反射光场汇合，经成像透镜聚焦在观察屏上，产生主观散斑图像。使用软件csvlaser进行观察，现象为，是压电陶瓷作周期性变化，从显示屏中可以观察到条纹的移动，确定其为散斑干涉条纹。用不同样品进行实验，可观察到，钢片样品散斑比较亮，铝次之，铜样品散斑最暗，这与样品表面粗糙程度以及样品吸收反射比率有关。