第3讲第三章射线检测.pptVIP

* 第三章 射线检测 本章重点： 根据衰减定律公式画图说明射线探伤的基本原理； 射线照相探伤系统的基本组成及其作用； 射线照相检测中射线源的选择原则； 射线照相检测中几何尺寸的选择原则； 常见焊缝缺陷性质的射线照相检测特征。 第三章 射线检测 射线探伤是利用射线可穿透物质和在物质中有衰减的特性来发现缺陷的一种探伤方法。 射线探伤 按射线源种类 X射线探伤 γ射线探伤 高能射线探伤 射线探伤 按显示缺陷的方法 射线电离法探伤 射线荧光屏观察法探伤 射线照相法探伤 射线实时图象法探伤 射线计算机断层扫描技术 射线探伤中应用的射线主要是X射线和γ射线。 X射线是由高速行进的电子在真空管中撞击金属靶产生，该射线源目前主要是X射线机和加速器，其射线能量与强度均可调； X射线的波长为0.001-0.1nm。 γ射线则由放射性物质（60Co、190Ir等）内部原子核的衰变而来，其能量不能改变，衰变几率也不能控制，该射线源为了γ射线机。 γ射线的波长为0.0003-0.1nm。 其共同特性: (1)不可见，以光速直线传播。 (2)不带电，不受电场和磁场的影响。 (3)具有可穿透物质和在物质中有衰减的特性。 (4)可使物质电离，能使胶片感光，亦能使某些物质产生荧光。 (5)能对生物细胞起作用（生物效应）。 第三章 射线检测 第三章 射线检测 一、探伤的基本原理