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光学高温计
仪器的工作光谱范围由光学系统和探测元件决定。 量程范围在400~8000C及以下各量程,采用硫化铅光敏电阻作探测元件,并配合锗滤光片。光谱范围短限由锗滤光片确定,长限由光学玻璃材质的物镜确定,约在1.8~2.7。峰值由探测元件确定,约为2.5。 量程范围600~10000C及以上各量程,采用硅光电池作探测元件,并配合HB850有色玻璃滤光片。光谱范围的短限也由滤光片确定,长限和峰值由探测元件确定。光谱范围约在0.8~1.1,峰值约为0.95,均在红外线波长范围内。 仪器的量程范围用光学衰减的方式改变。 各种量程都保持参比灯工作电流在某一固定范围内变化,即在量程上限时工作电流不超过250mA。 对于低温量程,将参比灯的辐射能量衰减; 对于高温量程,则将被测辐射能量进行衰减。 探测元件为硫化铅光敏电阻时,衰减玻璃选用GRB1隔热玻璃。探测元件为硅光电池时,采用LB6绿色玻璃。 6.4 非接触式测温 6.4.1 热辐射基本定理 6.4.2 光学高温计 6.4.3 光电高温计 6.4.4 辐射温度计 6.4.5 比色温度计 6.4.4 辐射温度计 根据全辐射强度定理,即物体的总辐射强度与物体温度的四次方成正比的关系来进行测量的。 组成:辐射感温器和显示仪表两部分 可用于测量400~20000C的高温,多为现场安装式结构。 为适应现场高温环境的要求,可在辐射感温器外加装水冷夹套。辐射高温计测量的温度称为辐射温度,被测对象为非黑体时,要通过修正才能得到非黑体的真实温度。 热电堆结构和补偿光阑 (a):1-云母基片;2-受热靶面;3-热电耦丝;4-引出线 (b):1-补偿片;2-双金属片 WFT-202型辐射感温器结构 1-物镜;2-外壳;3-补偿光阑;4-座架;5-热电堆;6-接线柱; 7-穿线套;8-盖;9-目镜;10-校正片;11-小齿轴 辐射温度 对于辐射式温度计,它是以绝对黑体的辐射能为基准对仪器进行分度的,所以仪器测出的值称为辐射温度。 辐射温度的定义:黑体的总辐射能等于非黑体的总辐射能时,此黑体的温度即为非黑体的辐射温度。根据全辐射强度定理,总辐射能相等,则有: 因为非黑体εT 1,则TFT 因此用辐射温度计测出的温度要比物体的真实温度低。 6.4 非接触式测温 6.4.1 热辐射基本定理 6.4.2 光学高温计 6.4.3 光电高温计 6.4.4 辐射温度计 6.4.5 比色温度计 6.4.5 比色温度计 原理:通过测量热辐射体在两个或两个以上波长的光谱辐射亮度之比来测量温度。 特点:准确度高,响应快,可观察小目标(最小可到2mm)。 因为实际物体的单色黑度系数和全辐射黑度系数的数值相差很大,但是对同一物体的不同波长的单色黑度系数和来说,其比值的变化却很小。所以用比色温度计测得的温度称为比色温度,它与物体的真实温度很接近,一般可以不进行校正。 比色温度计原理结构 比色温度 定义:黑体辐射的两个波长λ1和λ2的光谱辐射亮度之比等于非黑体的相应的光谱辐射亮度之比时,则黑体的温度即为这个非黑体的比色温度TS。 对于温度为的黑体,在波长为λ1和λ2时的光谱辐射亮度之比为 取对数后有 可以简化为 根据式(6.4.17)可以得到 可进一步求出物体的真实温度与比色温度的关系 对于灰体来说,由于ελ1T = ελ2T ,所以T=TS, 这就是比色温度计的最大优点 式中 End the 6.4 * * * 6.4 非接触式测温 高温测量中应用最广泛,主要应用行业为冶金、铸造、热处理以及玻璃、陶瓷和耐火材料等工业生产过程中。 任何物体处于绝对零度以上时,都会以一定波长电磁波的形式向外辐射能量。辐射式测温仪表就是利用物体的辐射能量随其温度而变化的原理制成的。 测量时,只需把温度计光学接收系统对准被测物体,而不必与物体接触,因此可以测量运动物体的温度并不会破坏物体的温度场。此外,由于感温元件只接收辐射能,不必达到被测物体的实际温度,从理论上讲,它没有上限,可以测量高温。 非接触测温仪表分类:光学高温计、辐射式温度计 6.4 非接触式测温 6.4.1 热辐射基本定理 6.4.2 光学高温计 6.4.3 光电高温计 6.4.4 辐射温度计 6.4.5 比色温度计 6.4.1 热辐射基本定理 辐射换热是三种基本的热交换形式之一 波长范围:10-3m~10-8m 在低温时,物体辐射能量很小,主要发射的是红外线。随着温度的升高,辐射能量急剧增加,辐射光谱也向短波方向移动,在5000C左右时。辐射光谱包括了部分可见光;到8000C时可见光大大增加,即呈现“红热”;如果到30000C时,辐射光谱包括更多的短波成分,使得物体呈现“白热”。 辐射测温的基本原理:观察灼热物体表面的“颜色
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