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第 2 回 2-1~2-5
第1部分 重點整理
1. 目前地球上所發現元素的結構都是由 原子核 和 電子 所組成。
2. 原子核內部主要由 質子 和 中子 組成。
3. 原子內部電子排列是由內往外,依序以K、 L 、M、N、O、P、Q等七層軌道繞著 原子核 為中心運轉,且每一層的電子最大容量為2n2,n表示能層數。
4. 目前最主要的半導體材料是 矽 與 鍺 ,其最外層的電子數目都是4個。
5. 在純半導體中,結晶體受到熱能的關係,會致使部分共價鍵破裂,而產生的自由電子及電洞,則稱為 電子電洞 對。
6. 價電子受熱能作用而脫離原來共價鍵結構,所留下的空位,稱為 電洞 。
7. 本質半導體在絕對零度0K(-273°C)時,沒有任何電子或電洞存在,可視為
絕緣 體。
8. 在純矽晶體中,欲使電子由共價鍵釋放出來而成自由電子,至少需要 1.1 eV的能量。
9. 在純鍺晶體中,欲使電子由共價鍵釋放出來而成自由電子,至少需要 0.7 eV的能量。
10. 在半導體材料之導電特性中,鍺質比矽質較 易 導電。
11. 以砷化鎵為材料的電晶體比矽材料的電晶體,能在較高頻率下使用,主要原因是 移動率 較快。
12. 在本質半導體中,以本質元素對雜質元素比為108:1之比例關係,摻雜正三價雜質元素(受體),使得 電洞 數目增加,其所形成半導體結構,稱為 P型 半導體。
13. 受體是指正三價的元素,一般常見的受體雜質元素有 硼 、鋁、鎵、銦。
14. 在P型半導體中,其多數載子是 電洞 ,少數載子是 電子 。
15. 在P型半導體中,傳導電流的主要載子是 電洞 。
16. 在本質半導體中,以本質元素對雜質元素比為108:1之比例關係,摻雜正五價雜質元素(施體),使得 電子 數目增加,其所形成半導體結構,稱為 N型 半導體。
17. 施體是指正五價的元素,一般常見的施體雜質元素有 磷 、砷、銻。
18. 在N型半導體中,其多數載子是 電子 ,少數載子是 電洞 。
19. 在N型半導體中,傳導電流的主要載子是 電子 。
20. 在熱平衡下,自由負電荷濃度np和正電荷濃度pp之乘積為定值(nppp=ni2),且與摻入的 雜質 無關。
21. 本質或外質(P型和N型)半導體在帶電性方面是 中性 ,但導電性方面則會隨溫度的上升而 增加 。
22. PN接合面處相結合瞬間,N型側內區域會形成 正離子 ,P型側內區域會形成 負離子 ,而整個區域內沒有電子、電洞存在,稱為 空乏 區。
23. PN接面處正、負離子所形成的電場效應,稱為 障壁 電壓,在常溫時,矽約為 0.7 V,鍺約為 0.3 V。
24. 二極體在順向偏壓時(P端接 正極 、N端接 負極 ),空乏區寬度會 變小 。
25. 二極體在逆向偏壓時(P端接 負極 、N端接 正極 ),空乏區寬度會 變大 。
26. 二極體在逆向偏壓工作時,由於位障增高,致使多數載子通過接合面不易,只有 少數 載子流動所形成的漏電流,稱為逆向飽和電流Is。
27. 逆向飽和電流Is
(1) 鍺質二極體的逆向飽和電流值(μA)要遠比矽質二極體逆向飽和電流值(nA) 大 ,二項材料Is相比約差1000倍左右。
(2) 逆向飽和電流Is值主要是與 材料 和 溫度 有關,但與 逆向 偏壓幾乎無關。
28. 二極體在順向偏壓時,其電流值是隨電壓呈 指數 方式遞增。
ID=Is
29. 溫度的變化,會致使二極體兩端的 障壁 電壓與 漏電 電流產生變化。
30. 二極體內部的逆向飽和電流Is會隨溫度每上升 10 °C其Is電流值增加1倍。
Is(t2)=Is(t1)
31. 二極體順向電壓值會隨溫度上升而 降低 ,其中鍺質二極體的電壓降低率約為 -1 mV/°C,矽質二極體電壓降低率約為 -2.5 mV/°C。
32. 當二極體施加於逆向偏壓時,電容量主要為 過渡 電容CT,且此電容值與逆向偏壓成 反比 。
33. 當二極體施加於順向偏壓時,電容量主要為 擴散 電容CD,且此電容值與順向電流成 正比 。
34. 空乏區深入接面PN兩端的深度,主要是由其摻入的 雜質 濃度決定,當摻入濃度愈大者,其深入的深度愈淺;反之,則深度愈深。
35. 二極體內部動態電阻(或交流電阻)與順向電流成 反比 。
動態交流電阻rd=。
第2部分 隨堂練習(題目前有「*」者,請見書末解析)
一、選擇題
*( D ) 1. 在矽本質半導體中摻雜磷雜質,則所得材料之多數載子為 (A)電洞(B)中子 (C)質子 (D)電子。
( B ) 2. 在N型半導體中,傳導電流的載子主要是 (A)中子 (B)電子 (C)電洞 (D)分子。
( A ) 3. 下列何者不是二極體材料? (A)雲母 (B)鍺 (C)矽 (D)砷化鎵。
( B ) 4. 下
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