扫描电子显微技术与x射线显微分析-仪器信息网.pptVIP

二.荧光产额： “荧光产额”（ω）是产生辐射跃迁的几率，即某一特定壳层的电离中能产生特征X线发射的电离所占的分数。它与电离的方法无关。 它对间接产生的特征X线是重要的，因此在定量分析中，必须对所引起的特征X线强度的增加作“荧光校正”，这种校正的大小将强烈地受荧光产额的影响。 三.X射线连续谱： 实际样品内产生的X射线谱是一个连续谱（强度：Icm~iZ[(λ/λmin 1]~iz(E。E)/E) 它带有样品平均原子序数的信息，对样品建立定量分析的某些修正程序很有作用。 四.基质校正： X线强度与元素浓度以复杂的关系依赖于样品成分。试样中元素的浓度可由下式计算：C=C’(F/F ）。F与F 分别为试样与标样的射线强度。 主要组成部分 一.探针形成系统。 二.X射线谱仪。 三.样品台。 四,光学显微镜。 五.扫描系统与真空系 统。 扫描电子显微镜(SEM) Reliability analysis Lab SEM 与 能量 谱仪波长谱仪 连用 定性分析 分析未知样品的第一步是鉴别所含的元素，即定性分析。定性X射线分析既直接又简单。 在进行定性分析时，必须利用几种不同的依据，其中最重要的是每个元素的特征X射线谱峰能量。这些数据有详细的X射线谱线汇编表。 单斜辉石熔融玻璃成分 定量分析 电子探针和扫描电镜利用非破坏性X