第3章 光辐射探测器解说.pptVIP

第3章 光辐射探测器光辐射量的测量通常采用各种探测器把光辐射能变换成一种可测的量，因而光辐射探测器性能往往直接影响到光辐射度量测量的可行性及精确性。人眼是一种光辐射探测器。在目视光度量测量中，人眼是一种极好的探测器件，但由于人眼的生理特点，很难用作光度量绝对量的测量，只能作为光度比较测量时高灵敏度的光度平衡判别器。随着光学和光电技术的迅速发展以及对光辐射探测与精确定量、高灵敏度测量的需要，光辐射探测器的品种和数量迅速发展 光电探测器利用光电效应，把入射到物体表面的辐射能变换成可测量的电量。 ① 外光电效应：当光子入射到探测器阴极表面(一般是金属或金属氧化物)时，探测器把吸收的入射光子能量(h?=hc/?)转换成自由电子的动能，当电子动能大于电子从材料表面逸出所需的能量时，自由电子逸出探测器表面，并在外电场的作用下，形成了流向阳极的电子流，从而在外电路产生光电流。 ② 光伏效应：半导体P-N结在吸收具有足够能量的入射光子后，产生电子-空穴对，在P-N结电场作用下，两者以相反的方向流过结区，从而在外电路产生光电流。基于这类效应的探测器有以硒、硅、锗、砷化镓等材料做成的光电二极管、光电三极管等 。 ③ 光电导效应。半导体材料在没有光照下，具有一定的电阻，在接收入射光辐射能时，半导体释放出更多的自由电子，表现为电导率增加(电阻值下降)。这类光电探测器有各种半导体材料制成的光敏电阻等。 热探测器利用热电效应。即探测器接收光辐射能后，引起物体自身温度升高，温度的变化使探测器的电阻值或电容值发生变化(测辐射热计)，或表面电荷发生变化(热释电探测器)，或产生电动势(热电偶，热偶堆)等，通过这些探测器参量的变化，获取入射光辐射量。 3.1光辐射探测器的性能参数 ① 探测器的输出信号值定量地表示多大的光辐射度量，即探测器的响应度大小。 ② 对某种探测器，需要多大的辐射度量才能使探测器产生可区别于噪声的信号量，即与噪声相当的辐射功率大小。 ③ 探测器的光谱响应范围，响应速度，线性动态范围等。与光辐射测量有关的还有表面响应度的均匀性、视场角响应特性、偏振响应特性等。 3.1.1 响应度 响应度描述光信号转换成电信号大小的能力。 探测器的响应度一般是波长的函数。 积分响应度不仅与探测器的光谱响应度有关，也与入射辐射的光谱特性有关，因而，说明积分响应度时通常要求指出测量所用的光源特性。 积分响应度和光谱响应度的关系为 3.1.2 噪声及其评价参数 (1) 噪声在系统中任何虚假的或不需要的信号统称为噪声。系统的噪声可分为来自外部的干扰噪声和内部噪声。来自外部的干扰噪声又可分为人为干扰和自然干扰噪声。人为干扰噪声通常来自电器电子设备，其会辐射出不同频率的电磁干扰。自然干扰噪声主要来自大气和宇宙间的干扰。外部干扰的噪声可采用适当的屏蔽、滤波等方法减小或消除。系统内部噪声也可分为人为噪声和固有噪声。内部人为噪声主要指工频(50H/60Hz)干扰和寄生反馈造成的自激干扰等，可以通过合理的设计和调整将其消除或降到允许的范围内。内部固有噪声是由于光电探测器中光子和带电粒子不规则运动的起伏所造成，主要有散粒噪声、热噪声、产生-复合噪声、1/f噪声和温度噪声等。这些噪声对实际器件是固有的，不可能消除，并表现为随机起伏过程。 3.1.2 噪声及其评价参数 (2) 噪声等效功率 NEP噪声等效功率是探测器产生与其噪声均方根电压相等的信号所需入射到探测器的辐射功率，即信噪比等于1时所需要的最小输入光信号的功率，(W)(3-15) 它是反映了探测器的理论探测能力的一个十分重要的指标。用NEP描述探测器探测能力的一个不方便之处是数值越小，表示探测器的探测能力却越强，相对缺乏直观性。为此一般引入NEP的倒数——探测率D来表示探测器的探测能力。 3.1.2 噪声及其评价参数 (3)探测率D由于探测率与探测器面积以及测量系统的带宽有关，对于比较不同类型、不同工作状态探测器的探测性能存在不便，为此，更常用的是采用比探测率D*(叫作D星)，(cmHz1/2W-1)(3-17) 即用单位测量系统带宽和单位探测器面积的噪声电流来衡量探测器的探测能力。 值得注意的是，探测器的比探测率不是一个固有常量。首先，它和响应度成正比，随波长变化与响应度的相同。其次，与各种影响响应度和噪声电流的因素都有关系，所以在给出探测器的比探测率时，一般注明测量的条件。 图3-12 典型光电探测器的D*曲线