异常电池片EL测试图及答案.pptVIP

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  • 2016-12-15 发布于湖北
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电池片EL测试图及 相关分析 光伏电池制造分公司 材料缺陷图例 烧结缺陷图例 工艺污染图例 原料问题-黑边片 关于黑心片的解释 黑心解释 直拉单晶硅拉棒系统中的热量传输过程对晶体缺陷的形成与生长起着决定性的作用。提高晶体的温度梯度, 能提高晶体的生长速率, 但过大的热应力极易产生位错。图7就是我们一般所说的“黑心”片的EL图。在图中可以清楚地看到清晰的旋涡缺陷, 它们是点缺陷的聚集, 产生于硅棒生长时期。此种材料缺陷势必导致硅的非平衡少数载流子浓度降低,降低该区域的EL发光强度。 关于黑团片的解释 关于黑斑片的网络解释 关于黑芯、黑团的单片EL图例 实际EL测试:黑芯片 测试数据 实际EL测试:黑芯片 实际EL测试:类似于黑芯、黑团片 实际EL测试:类似于黑芯、断栅 实际EL测试:类似于黑芯、黑团片 实际EL测试:黑斑片 实际EL测试:黑斑片 不知如何定义 不知如何定义 不知如何定义 不知如何定义 高效率电池片EL图 关于黑芯、黑团、黑斑片的说法 关于断栅的两种解释 印刷不良 实际EL测试:类似于断栅 实际EL测试:类似于断栅 实际EL测试:扩散面放反 实际EL测试:PE漏插 实际EL测试:铝背场印刷问题 2012年12月19日EL测试样图。 2012年12月19日EL测试样图。 2013年5月7日EL测试样图,主要表现为:漏电流大,效率极低,一般为0~5%之间。 * 2013年4月25日EL测试样图,效率为16.6-16.8%,主要表现为:Uoc、Isc较低,其他参数均正常。 2.575912599 0.615691891 5.411179003 0.005538581 182.6796417 770.166402623 Pmpp Uoc Isc 0.067037918 2.573654628 0.615716841 5.415291564 0.005661586 110.7826385 77.1875737 0.166256756 Rs Rsh FF NCell Irev2 0.124559671 2.583673186 0.615395278 5.405760246 044770.166903958 0.350143224 2.590804025 0.616869684 5.432061779 0.005628178 157.4691925 770.167364597 0.071313821 2.583888673 0.616800384 5.428872985 0.005670409 103.7511063 770.166917875 0.128988639 2.586072779 0.616894432 5.437208676 0.005447959 119.2422333 77.0999136 002.586674947 0.615762652 5.423505103 0.005075137 95770.167097867 0.141241416 2.578110932 0.615813965 5.422037223 0.005770003 117.5901413 77.2128481 0.166544631 0.111877739 2.564496235 0.614184505 5.397506349 0.005414225 156.5682068 77.3588577 0.165665135 0.083390705 20.614993672 5.403229788 0.005278439 93770.165782198 0.130646661 2.577754502 05.412807022 0105.4013672 770.166521609 0.116890401 2.582665755 0.615864924 5.419170376 0.005275868 143.84758 770.166838869 0.085591905 2.581873783 0.616977549 5.431657061 0.005865652 42770.166787714 0.191019163 2.587668621 0.616663646 5.433159745 0.005376337 49770.16716

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