x射线物相定性分析课件.ppt

绪论 相是材料中各元素作用形成的具有同一聚集状态、同一结构和性质的均匀组成部分，分为化合物和固溶体两类。物相分析，是指确定材料由哪些相组成和确定各组成相的含量。根据晶体对X射线的衍射特征—衍射线的方向及强度来鉴定结晶物质的物相的方法，就是X射线物相分析方法。 X射线衍射分析样品制备 在使用X射线衍射仪进行分析时，样品制备会对衍射结果产生显著的影响。通常制成平板状样品，衍射仪均附有表面平整光滑的玻璃或铝质的样品板，板上开有窗孔或不穿透的凹槽，样品放入其中进行测定。 1.粉晶样品的制备 (1)将被测试样品在玛瑙研钵中研成10μm左右的细粉； (2)将适量研好的细粉填入凹槽，并用平整的玻璃板将其压紧； (3)将槽外或高出样品中板面的多余粉末刮去，重新将样品压平，使样品表面与样品板面平整光滑。若是使用带有窗孔的样品板，则把样板放在一表面平整光滑的玻璃板上，将粉末填入窗孔，捣实压紧即可。样品测试时，应使贴玻璃板的一面对着入射X射线。 2。特殊样品的制备 对于金属、陶瓷、玻璃等一些不易研成粉末的样品，可先将其锯成窗孔大小，磨平一面，再用橡皮泥或石蜡将其固定在窗孔内。对于片状、纤维状或薄膜样品也可取窗孔大小直接嵌固在窗孔内。但固定在窗孔内的样品其平整表面必须与样品板平齐，并对着入射X射线。 2. PDF卡片 （1）1a，1b，1c区域为从衍射图的透射区（2θ＜90o＝中选出的三条最强线的面间距。1d为衍射图中出现的最大面间距。（1）1a，1b，1c区域为从衍射图的透射区（2θ＜90o＝中选出的三条最强线的面间距。1d为衍射图中出现的最大面间距。 （2）2a，2b，2c，2d区间中所列的是（1）区域中四条衍射线的相对强度。最强线为100，当最强线的强度比其余线小强度高很多时，有时也会将最强线强度定为大于100。 （9）第9区间是该物相所对应晶体晶面间距d（?）；相对强度I/I1及衍射指标hkl。 在该区间，有时会出现下列意义的字母： b — 宽线或漫散线；d —双线； n — 并非所有资料来源中均有； nc — 与晶胞参数不符； np — 给出的空间群所不允许的指数； ni — 用给出的晶胞参数不能指标化的线；β— 因β线存在或重叠而使强度不可靠的线； tr — 痕迹线；t —可能有另外的指数。 计算机检索程序框图 物相定性分析示例 1.用PDF卡片作单相鉴定 2.多相物质分析与示例 多相物质相分析的方法是按单一物相分析的基本步骤逐个确定其组成相。多相物质的衍射花样是其各组成相衍射花样的简单叠加，这就带来了多相物质分析(与单相物质相比)的困难:检索用的三强线不一定属于同一相，而且还可能发生一个相的某线条与另一相的某线条重叠的现象。因此，多相物质定性分析时，需要将衍射线条轮番搭配、反复尝试，比较复杂。 多物相定性分析示例 X射线衍射定量相分析原理 (一)外标法 外标法是用对比试样中待测的第i相的某条衍射线和纯i相(外标物质)的同一条衍射线的强度来获得第i相含量的方法。原则上它只能适用于两相系统。 设试样中所含两相的质量吸收系数分别为(μm)1 和(μm)２ 　由下式可知，在两相系统中若各相的质量吸收系数已知，则只要在相同实验条件下测定待测试样中某一相的某根衍射线强度Ｉ１(一般选择最强线来测量)。然后再测出该相 　的纯物质的同一条衍射线强度(Ｉ１) ０，就可算出该相的质量分数Ｗ1，但Ｉ１ ／ (Ｉ１) ０ 与Ｗ1一般无线性正比关系，这是由样品的基体吸收效应所造成的。 (二)内标法 内标法就是把一定量的某种给定物相S加人未知的待测样品中，构成新的复合试样，从而进行定量分析的一种方法。基本公式为: 复合试样中i相强度与内标相S的强度比值与试样中i相含量成直线关系，所以可以作出标准工作曲线，求出待测试样中i相的含量。 用内标法测量，每次测量一相都需要作一条标准曲线，如果测量多相就需要作多条标准曲线，所以定量工作需要较多时间。 (三)Ｋ值法 若测定由n个物相组成的待测样中i相含量Wi，可在待测试样中加人待测试样本身不存在的已知含量的参考相Ws，制成包含n+l个物相的复合试样。若预先测定了i相与参考相S含量1:1时的强度，则待测样中i相含量可以由下式求出: 晶粒大小与晶格畸变的测定原理 粉末粒度范围的扩大和颗粒形状的复杂性，特别是近年来纳米粉末的大量出现，使得准确而方便地测定粒度和形状变得很困难。而且，粉末越细，越易形成团聚体。有些粒度测定方法的误差以及不同测定方法结果的对比或换算的难易，均与团聚状态及团聚强弱程度有直接关系。 在所有的粒径测定方法中，只有筛分析和显微镜法是直接测量粒径的，而其他方法都是间接方法，即通过测