实验1集成门电路功能测试概述.pptVIP

实验1 集成门电路功能测试 一、实验目的 1．掌握逻辑值与电压值的关系。 2．掌握常用逻辑门电路的逻辑功能及测试方法。 3．熟悉数字电路实验箱的结构、基本功能及使用方法。 二、实验内容 基本门电路的逻辑功能测试;观测输入输出端的逻辑值，测量出输出端对应的电压值。 逻辑门的转换:利用74S00与非门组成非门，2输入与门,2输入或门电路。 门电路的基本应用:测试用“异或”门和“与非”门组成的半加器的逻辑功能。 三、实验原理 1.门电路的基本概念 门电路：实现各种逻辑关系的电路 正逻辑系统：高电位用 1 表示，低电位用 0 表示 负逻辑系统：高电位用 0 表示，低电位用 1 表示。 TTL集成门:输出高电平约3.6V，低电平约0.3V CMOS集成门:阈值电压为电源电压的一半，即VCC/2。 2. 逻辑门电路模块 输入全为 1 设 VA= VB= 3.6 V VB1升高，足以使 T2 、T5 导通，Vo = 0.3 V,Y = 0。 VC2 = VCE2 + VBE5 = 0.3 + 0.7 = 1 V，使 T3 导通，T4 截止。 与非门的逻辑功能：全 1 出 0，有 0 出 1。 输入不全为 1 VY = 5 –Vbe3 – Vbe4 – VR2 T2 、T5 截止， T3、 T4 导通， = 5 – 0.7 – 0.7 = 3.6 V 设: VA= 0.3 V VB= 3.6 V，则 VB1 = 0.3 + 0.7 = 1 V T4 与 T3 并联， T1 与 T2 串联； 当 AB 都是高电平时, T1 与 T2 同时导通，T4 与 T3 同时截止；输出 Y 为低电平。 当 AB 中有一个是低电平时，T1 与 T2 中有一个截止，T4 与 T3 中有一个导通，输出 Y 为高电平。 3.集成逻辑电路封装 4.逻辑值的测试： 5.数字电路实验箱图解： 116位0-1电平输出显示; ② 40脚带自紧活动芯片座 ;③双列直插式芯片插座;④ 16位0-1信号开关;⑤ 电阻、电容、整流二极管;⑥ 脉冲信号源 ;⑦ 直流信号源;⑧与计算机通信的串口（9针）⑨ PLCC芯片座（44脚;⑩ 3个不同阻值的电位器; ? 蜂鸣器 74LS00与非门组成非门， 2输入与门, 2输入或门电路 测试用“异或”门和“与非”门组成的半加器 5.门电路的转换及应用 6.实验线路图 四、实验内容 1、验证74LS08(与门)、74LS32(或门)、74LS04(非门)、74LS00(与非门) 、74LS86(异或门)的功能 将被测芯片插入实验区的空插座,连接好测试线路,拨动开关,改变输入信号,观测输入输出端的逻辑值时，并用万用表测量出输出端对应的电压值，验正TTL电路的逻辑功能, 记录实验数据。 2、利用74S00与非门组成非门，2输入与门,2输入或门电路，画出实验电路图，并测试其逻辑功能，验证结果。 3、测试用“异或”门和“与非”门组成的半加器的逻辑功能 根据半加器的逻辑表达式可知，半加器的输出的和数S是输入A、B（二进制数）的“异或”，而进位数C是A、B的相“与”，故半加器可用一个集成“异或”门和二个“与非”门组成，如图1.9a.3所示。 ⑴ 在实验箱上用“异或”门(74LS86)和“与非”门连接图1.9a.3所示逻辑电路。输入端A、 B接“逻辑电平”开关，输出端 S、C接“电平显示”发光二极管。 通过电平开关改变输入A、B的逻辑状态置位，观测输出端的逻辑状态，列表记录。 * * * * * *