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结合文章对X射线吸收精细结构(XAFS)谱的分析 X-rayAbsorptionFineStuctureX射线吸收精细结构（XAFS）谱是用于描绘局部结构最强有力的工具之一。从光谱中，我们还能得到吸收原子与邻近原子的间距、这些原子的数量和类型以及吸收元素的氧化状态，这些都是确定局部结构的参数。通过选择不同能量的X射线，我们可以获得样品中所有元素的此类信息 当X射线的能量与样品中某一元素的一个内电子壳层的能量发生共振时，会出现突然的升高电子被激发形成连续光谱。由于光谱的形状，该光谱又被称为吸收边。多数情况下，吸收边分得很开，且目标元素只是通过扫描一个合适的能量范围来简单的选择。沿着吸收边，随着X射线能量的增加，当X射线的穿透深度变大时，吸收率单调下降。当光谱被扩展越过一个特定边缘时，可观察到精细结构。当超过20到30电子伏特宽的谱峰和谱肩刚通过边沿的起点时，就出现了X射线吸收近边结构（XANES）区。位于能量衰减至几百个电子伏特的边沿的高能量一侧的精细结构被称为X射线吸收精细结构（XAFS）。 XANES和XAFS中的精细结构已被研究得较透彻，它使XAFS能用于确定化学物质的种类与局部结构。在边区以外，XAFS精细结构以一系列起伏振荡的形式叠加在本应为孤立原子所具有的较为平滑的吸收曲线上。这些精细结构是由于电离出的光电子波与邻近原子对部分这些波的反向散射波之间干涉而形