《材料分析测试技术》课程试卷答案..docVIP

选择题：（8分/每题1分） 1. .当X射线将某物质原子的K层电子打出去后，L层电子回迁K层，多余能量将另一个L层电子打出核外，这整个过程将产生（D）。 A. 光电子；B. 二次荧光；C. 俄歇电子；D. （A+C） 2. 有一体心立方晶体的晶格常数是0.286nm，用铁靶Kα（λKα=0.194nm）照射该晶体能产生（ B ）衍射线。 A. 三条； B .四条； C. 五条；D. 六条。 3. .最常用的X射线衍射方法是（ B ）。 A. 劳厄法；B. 粉末多晶法；C. 周转晶体法；D. 德拜法。 4. .测定钢中的奥氏体含量，若采用定量X射线物相分析，常用方法是（C ）。 A. 外标法；B. 内标法；C. 直接比较法；D. K值法。 5. 可以提高TEM的衬度的光栏是（ B ）。 A. 第二聚光镜光栏；B. 物镜光栏；C. 选区光栏；D. 其它光栏。 6. 如果单晶体衍射花样是正六边形，那么晶体结构是（ D ）。 A. 六方结构；B. 立方结构；C. 四方结构；D. A或B。 7. .将某一衍射斑点移到荧光屏中心并用物镜光栏套住该衍射斑点成像，这是（ C ）。 A. 明场像；B. 暗场像；C. 中心暗场像；D.弱束暗场像。 8. 仅仅反映固体样品表面形貌信息的物理信号是（B ）。 A. 背散射电子；B. 二次电子；C. 吸收电子；D.透射电子。 判断题：（8分/每题1分） 产生特征X射线的前提是原子内层电子被打出核外，原子处于激发状态。（ √） 倒易矢量能唯一地代表对应的正空间晶面。（ √ ） 大直径德拜相机可以提高衍射线接受分辨率，缩短暴光时间。（ × ） X射线物相定性分析可以告诉我们被测材料中有哪些物相，而定量分析可以告诉我们这些物相的含量有什么成分。（ × ） 有效放大倍数与仪器可以达到的放大倍数不同，前者取决于仪器分辨率和人眼分辨率，后者仅仅是仪器的制造水平。（ √ ） 电子衍射和X射线衍射一样必须严格符合布拉格方程。（ × ） 实际电镜样品的厚度很小时，能近似满足衍衬运动学理论的条件,这时运动学理论能很好地解释衬度像。（√ ） 扫描电子显微镜的衬度和透射电镜一样取决于质厚衬度和衍射衬度。（ × ） 填空题：（14分/每2空1分） 电子衍射产生的复杂衍射花样是高阶劳厄斑、超结构斑点、二次衍射、孪晶斑点和菊池花样。 当X射线管电压低于临界电压仅可以产生 连续谱 X射线；当X射线管电压超过临界电压就可以产生 连续谱X射线和 特征谱 X射线。 结构振幅用 F 表示，结构因素用表示，结构因素=0时没有衍射我们称 结构消光或 系统消光 。对于有序固溶体，原本消光的地方会出现 弱衍射 。 电磁透镜的像差包括球差、像散和色差。 衍射仪的核心是测角仪圆，它由 辐射源 、 试样台 和 探测器 共同组成 测角仪 。 X射线测定应力常用仪器有应力仪和衍射仪，常用方法有Sin2Ψ法和0o-45o法。 运动学理论的两个基本假设是双束近似和柱体近似。 电子探针包括波谱仪和能谱仪两种仪器。 名词解释：（10分/每题2分） 形状因子——由于晶体形状引起的衍射强度分布变化，又称干涉函数。 聚焦圆——试样对入射X射线产生衍射后能聚焦到探测器上，此时辐射源、试样和探测器三者位于同一个圆周上，这个圆称之聚焦圆。 景深与焦长——在成一幅清晰像的前提下，像平面不变，景物沿光轴前后移动的距离称“景深”；景物不动，像平面沿光轴前后移动的距离称“焦长”。 应变场衬度——由于应变导致样品下表面衍射波振幅与强度改变，产生的衬度称应变场衬度；衬度范围对应应变场大小。 背散射电子——入射电子被样品原子散射回来的部分；它包括弹性散射和非弹性散射部分；背散射电子的作用深度大，产额大小取决于样品原子种类和样品形状。 问答题：（36分/每题9分） X射线学有几个分支？每个分支的研究对象是什么？ 答：X射线学有三个分支：X射线透射学，X射线衍射学，X射线光谱学。X射线透射学研究X射线透过物质后的强度衰减规律，由此可以研究探测物体内部形貌与缺陷；X射线衍射学研究晶体对X射线的衍射规律，由此可以通过X射线衍射研究晶体结构与进行物相分析等；X射线光谱学研究特征X射线与物质元素的关系，由此可以根据特征X射线分析样品组成。 图题为某样品德拜相（示意图），摄照时未经滤波。巳知1、2为同一晶面衍射线，3、4为另一晶面衍射线．试对此现象作出解释． 答：根据衍射图发现每个晶面都有两条衍射线，说明入射线存在两个波长。由于没有采用滤波装置，那么很可能是Kα、Kβ共同衍射的结果。 分别说明成像操作与衍射操作时各级透镜（像平面与物平面）之间的相对位置关系，并画出光路图。 答：成像操作时中间镜是以物镜的像作为物成像，然后由投影镜进一步放大投到荧光屏上，即中