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SRC6001 测试原理 1.电阻测量 1.1电阻方法0：（分压测量法） 如图所示，Zx=Vx*Zs/Vs; 或Zx=Vx*Zs/(Vo-Vx) 两公式中 Zx是待测电阻 Vx是待测电阻的端电压 Zs是信号源标准电阻 Vs是信号源标准电阻的端电压 Vo是信号源驱动电压 两公式中前一个需测两个未知量Vs与Vx，而后一个只需测一个量Vx，所以后一种算法测量速度快是电阻方法0快速测量法所采用的，但由于它用Vs作已知量（12位的DA经放大后的输出），相对Vs （14 位的AD加高精度的仪表放大器）的精度，快速测量法速度快但精度（3%~5%）不如普通方法（1%）高。以下各测试方法凡有快速方法的均同此理，不再一一描述。 1.2电阻方法1：（恒压测量法） 如右图所示情况：被测电阻 与较大的电容并联，Zs的存 在对信号稳定时间不利，而 利用闭环反馈原理将Zs含于 负反馈闭环中将消除这一不 利影响加快测量速度，但由 于电路采用大回路的闭环反馈， 有时会不稳定，产生自激（与 外电路结构有关）。 1.3电阻方法2：（四针测量法） 对小于10欧的小电阻特设此方法，其测 量范围0.1欧~100欧，测量原理如下： 由于所有探针接触点都存在接触电阻， 而且在多次重压及不同的被测板间这种接 触电阻的变化较大（不同于引线电阻是固 定值），新针床约1欧左右，旧针床可达 10欧，如果用直接两针法测量，这种接触电阻的变化将直接影响测量结果，使小电阻的测量变得很不稳定。 改用四针电桥法测量后（参见上图）PIN1与PIN2是信源发出针，PIN3及GPIN1是被测电压返回探针，由于电压采样放大器的输入电阻极高，所以在“返回探针接触电阻”上的电流及压降很小，能准确测得被测电阻的真实端电压。回路电流的大小虽然与“源接触电阻”大小有关，但在每次测量中，被测电阻的端电压与回路电流的比值仅与被测电阻值有关。 在针床制作时，我们要求对被测板上小于10欧的电阻每个管脚设双针，可按上图方式用R2方法进行电桥测量。如果被测板上没有设双针，可用如下方法弥补（需试验而定）： 如果能在被测小电阻两端分别找到另一个电阻或电感，按上图方式测量也能达到同样的效果，在第二图中返回探针接触电阻加电阻或电感的阻值等效于第一图的返回探针接触电阻，由于电压测量通道阻抗高达10兆欧，所以当等效接触电阻达到100千欧时，电压测量误差只有1%，可满足测试精度要求。 注意，测量与返回的探针是配对的，如果针号录入时PIN3与GPIN1交换了，在设备自动学习时，将自动调换针号。 2.电容测量 2.1电容方法0：（分压法） 如图所示：测量Is与Vx可计算得 Cx=|Is|/（|Vx|*Rs）/2πf-Co；或Cx=Rs*（Vs2-Vx2）1/2/ 2πfVx-Co，此方法与电阻分压法相似，不同的是Vs为交流信号，计算方法较复杂。图中Co是系统分布电容约1nF，显然，当被测电容较小时（〈1nF）分布电容比被测电容还大，使测试精度大大下降，为此，对10nF以下电容有虚地法测量。 2.2电容方法1：（虚地法测量） 如图所示：Cx=|Ix| / 2πf |Vx|； 由于Ix与分布电容Co无关所以可以测得很小的电容； 2.3电容方法2：（恒流源测量法） 如图所示：Cx=T*Ix / Vx； 其中T是供电时间，Ix是恒流源 Vx是在T时间内电容两端的电压变化量； 2.4电容方法3：（极性电容测量法） 三针电容极性测量法原理如右图所示，由于电解 电容管脚对外壳的电容量相差较大，所以图中电 压V1与V2会有较大差异，由此可判断电容的 极性是否装反，对于较大的电容由于容抗较小， 使得信号源驱动困难，因此常降低频率测量； PIN1：电容管脚1 PIN2：电容管脚2 PIN3：外壳极性针 3.电感测量： 3.1电感方法0： 原理与电容方法0相同， Lx=（|Vx|*Rs）/2πf|Is|； 3.2电感方法1：（四线测量法） 原理与电阻的四线测量法相同，因为小电感的感抗比较小，接触电阻的变化对电感的影响同样很大。 4跳线测量法（通断测量）： 通过测量两点间直流电阻判断跨接线的安装情况； JP0以两点间短路为正确， JP1以两点间开路为正确。 标称值不必输入，默认为20Ω，当给定1~100间的数时，短路的判定将以给定值为准（误差10%）。 5.晶体管测量 5.1晶体管测量法0（通断测量）： 如右图所示：VCC缺省为3V（可以在信号源调整界面设置）；当Vb为0V时，测得Vc值为晶体管截止电压，当Vb为1V（可设定）时测得Vc值为晶体管导通电压。在此方法中 PIN1：三极管发射极（e） PIN2：三极管基极（b） PIN3：三极管集电极（c） 测量值1：晶体管截止电压 测量值2：晶体管导通电压。 如果针号输入顺序不