第二章 晶体结构与晶体缺陷.docVIP

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第二章 晶体结构与晶体缺陷 例 题 2-1 (a)MgO具有NaCl结构。根据O2-半径为0.140nm和Mg2+半径为0.072nm,计算球状离子所占有的空间分数(堆积系数)。 (b)计算MgO的密度。 解:(a)MgO具有NaCl型结构,即属面心立方,每个晶胞中含有4个Mg2+和4个O2-,故Mg所占有体积为: 因为Mg2+和O2-离子在面心立方的棱边上接触: 堆积系数= (b)=3.51g/cm3 2-2 Si和Al原子的相对质量非常接近(分别为28.09和26.98),但SiO2和Al2O3的密度相差很大(分别为2.65g/cm3和3.96g/cm3)。试计算SiO2和Al2O3的堆积密度,并用晶体结构及鲍林规则说明密度相差大的原因。 解: 首先计算SiO2堆积系数。每cm3中含SiO2分子数为: 每cm3中Si4+和O2-所占体积为: Si2O3晶体中离子堆积系数=000195+0.5809=0.5829或58.29% Al2O3堆积系数计算如下: Al2O3中离子堆积系数=0.0292+0.8070=0.8362或83.62% 计算时=0.026nm =0.138nm(四配位) =0.053nm =0.14nm(六配位) 由于Al2O3离子堆积系数83.62%大于SiO2晶体总离子堆积系数,故Al2O3密度大于SiO2。 从鲍林规则可得,Al2O3中Al3+于O2-是六配位,Al3+充填O2-六方密堆中八面体空隙总数的2/3。而SiO2晶体中,Si4+是高电价低配位。Si4+仅充填了四面体空隙数的1/4,Si-O四面体以顶角相连成骨架状结构,堆积疏松,空隙率大,故密度低。 2-3 试简述层状硅酸盐矿物二层型结构与三层型结构,二八面体与三八面体结构的演变以及各种层状矿物的结构关系。 解:层状硅酸盐凡有一个八面体层与一个四面体层相结合称为双层型。八面体层两侧都与一层四面体层结合称为三层型。八面体层中阳离子一般为Al3+或Mg2+。按照电中性要求,当Al3+在八面体中心,铝氢氧八面体空隙只有2/3被Al3+充填时,称为二八面体。若镁氢氧八面体空隙全部被Mg2+充填称为三八面体。层状矿物四面体中的Si4+还可以按一定规律被Al3+代替。层与层之间还可嵌入水分子作为层间结合水。通过每一个变化就形成一种新的矿物。表2-5综合列出以上多种多样的结构变化及各种层状矿物的相互关系。 表2-5 双 层 结 构 三 层 结 构 三八面体 二八面体 2-4 对离子晶体,位能E(J/mol)可以写成,式中N0为阿弗加德罗常数;M为马德龙常数(表示离子的特点集合排列对静电能的影响);n为与阳离子最邻近的阴离子数目;λ和ρ为材料常数;ε0为转换因子(ε0=8.854×10-12C2/N·m2);e为电子电荷;Z为阳离子与阴离子上单位电荷的绝对数目。在阳离子与阴离子平衡距离r0处,离子之间的作用力由下式得出。 (a)将表示位能的公式对r求导,并解出nλ,用、ρ和r0表示。 (b)将(a)结果代入表示位能的公式中,得出晶格能U0(对于r=r0)用()、(N0MZ2e2)、ρ和r0表示。 解:(a) 令 dE/dr=0 =0 解之得:nλ=exp(-r0/ρ) (b)将nλ代入E式中,得到 2-5 利用2-4题答案(a)计算NaCl晶格能(对于NaCl,M=1.748;ρ=0.033nm;r0=0.282nm ;e=1.602×10-19C)。(b)MgO晶格能是多少?(MgO晶体结构与NaCl相同,ρ=0.039nm;r0=0.210nm)(c)MgO得熔点为2800℃,NaCl仅为801℃,从以上计算能说明这个差别吗? 解:(a)NaCl晶体Z=1,ρ=0.033nm=0.033×10-9m。 (b)MgO Z=2,ρ=0.039nm=0.039×10-19m (c)由计算可知U0MgOU0NACl,所以MgO的熔点高于NaCl。 2-6 (a)在MgO晶体中,肖特基缺陷的生成能为6eV,计算在25℃和1600℃时热缺陷的浓度。(b)如果MgO晶体中,含有百万分之一的Al2O3杂质,则在1600℃时,MgO晶体中时热缺陷占优势还时杂质缺陷占优势? 解:(a)根据热缺陷浓度公式: 由题意E=6eV=6×1.602×10-19=9.612×10-19J T1=25+273=298K T2=1600+273=1873K 298K: 1873K: (b)在MgO中加入百万分之一的Al2O3,缺陷方程如下: 此时产生得缺陷为。 而,

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