《P控制图介绍.docVIP

P图缩写 Proportion Chart 品率控制图。 SPC控制图-P图 用于控制对象为不合格品率或合格率等计数值质量指标的场合。常见的不良率有不合格品率、废品率、交货延迟率、缺勤率、差错率等等。P图是用来测量在一批检验项目中不合格品（缺陷）项目的百分数。P图适用于全检零件或每个时期的检验样本含量不同。不良品率控制图虽然是用来管制产品之不合格率，但并非适用于所有之不合格率数据。在使用不良品率控制图时，要满足下列条件:1.发生一件不合格品之机率为固定。 2.前、后产品为独立。如果一件产品为不合格品之机率，是根据前面产品是否为不合格品来决定，则不适合使用P图。 3.如果不合格品有群聚现象时，也不适用P图。此问题通常是发生在产品是以组或群之方式制造。例如在制造橡胶产品之化学制程中，如果烤箱之温度设定不正确，则当时所生产之整批产品将具有相当高之不合格率。如果一产品被发现为不合格，则同批之其他产品也将为不合格。 1.检验并记录数据2.计算平均不合格品率P 3.计算中心线和控制界限（USL；LSL） 4.绘制控制图并进行分析 .1 选择子组的容量，频率及数量（见图2） 子组容量——用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量（例如50到200或更多）以便检验出性能的一般变化。对于显示可分析的图形的控制图，子组容量应足够大，大到每个组内包括几个不合格品。（例如n p 5）。但是应注意如果每个子组代表很长的一段时间的过程操作，大的子组容量会有不利之处。如果子组容量是恒定的或它们变化不超过±25%是最方便的，但不一定是这样。如果子组容量相对p来说足够大也是很有好处的，这样能获得下控制限，从而也可以发现由于改进造成的可查明的原因。 分组频率——应根据产品的周期确定分组的频率以便帮助分析和纠正发现的问题。时间间隔短则反馈快，但也许与大的子组容量的要求矛盾。 子组的数量——收集数据的时间足够长，使得能找到所有可能地影响过程的变差源。一般情况下，也应包括25或更多的子组，以便很好地检验过程的稳定性，并且如果过程稳定，对过程性能也可产生可靠的估计。 A.2 计算每个子组内的不合格品率（p）（见图2） 记录每个子组内的下列值： 被检项目的数量——n 发现的不合格项目的数量——np 通过这些数据计算不合格品率： p= 这些数据应记录在数据表中作为初步研究的基础。当最近的过程数据适用时，它们可以用来加速这一阶段的研究。 A.3 选择控制图的坐标刻度（见图2） 描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别（小时、天等）作为横坐标。纵坐标的刻度应从0到初步研究数据读数中最大的不合格率值的1.5到2倍的值。 A.4 将不合格品率描绘在控制图（见图2） 描绘每个子组的p值，将这些点联成线通常有助于发现异常图形和趋势。 当点描完后，粗览一遍看看它们是否合理。如果任意一点比别的高出或低出许多，检查计算是否正确。 记录过程的变化或者或能影响过程的异常情况，当这些情况被发现时，将它们记录在控制图“备注”部分。 计数型数据控制图 工厂××× p c np u 零件号及名称 ××× 部门 ××× 工序号及名称： 最终功能试验 应记录人员、材料、设备、方法、环境或测量系统中的任何变化，在控制图上出现信号时， 这些记录将帮助你采取纠正或改进过程的措施。 日期 时间 备注 5 — 14 全天 培训新的检验员 5 — 26 8：50AM 主要动力源中断 5 — 26 10：15AM 主要动力源中断 图2 不合格品率p率——计算控制限—表1 计算控制限 B.1 计算过程不合格率（p）（见图2） 对于k个子组的研究时期，计算不合格品率的均值如下： n1p1+n2p2+…+nkpk p = n1+n2+…+nk 式中：n1p1，n2p2 ……及n1 ，n2…为每个子组内的不合格项目数及检查的项目数。注意不要混淆不合格品百分数（?p×100）和不合格率（p）。 B.2 计算上、下控制限（UCL，LCL）（见图2） 如果过程受统计控制，子组的样本容量一定，则控制限为过程平均值加或减期望的变差允许值。对于K个子组的研究时期，