可靠性-LED加速老化寿命试验方法概论.docxVIP

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  • 2017-01-19 发布于重庆
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可靠性-LED加速老化寿命试验方法概论.docx

可靠性-LED加速老化寿命试验方法概论

一、可靠性理论基础可靠度:如果有N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t),当N足够大时,产品在t时刻的可靠度可近似表示为:随时间的不断增长,将不断下降。它是介于1与0之间的数,即 。累积失效概率:表示发光二极管在规定条件下工作到t这段时间内的失效概率,用F(t)表示,又称为失效分布函数。如果N个LED产品从开始工作到t时刻的失效数为n(t),则当N足够大时,产品在该时刻的累积失效概率可近似表示为:失效分布密度:表示规定条件下工作的发光二极管在t时刻的失效概率。失效分布函数的导函数称为失效分布密度,其表达式如下: 早期失效期;偶然失效期(或稳定使用期) ;耗损失效期。 二、寿命老化:LED发光亮度随着长时间工作而出现光强或光亮度衰减现象。器件老化程度与外加恒流源的大小有关,可描述为: Bt为t时间后的亮度,B0为初始亮度。通常把亮度降到Bt=0.5B0所经历的时间t称为二极管的寿命。 1. 平均寿命 如果已知总体的失效分布密度f(t),则可得到总体平均寿命的表达式如下: 2. 可靠寿命可靠寿命TR是指一批LED产品的可靠度下降到r时,所经历的工作时间。TR可由R(TR)=r求解,假如该产品的失效分布属指数分布规律,则: 即可求得TR如下: 3. 中位寿命中位寿命T0.5指产品的可靠度R(t)降为50%时的可靠寿命,即:对于指数分布情况,可得:二、LED寿命测试方法 LE

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