三次量測探頭.pptVIP

* 指導教授：朱志良教授 學 生張君瑋 張翔茹 鄭響宇 陳有財 具導電性之三次元量測探頭 前言 探針選用與製作 觸發電路的設計 夾持系統與影像系統 探針安裝 目前進度與結論 未來發展 大綱 前言 一般三次元探頭在進行量測時，和量測物之間會接觸產生接觸力，而此接觸力會使探頭感測器產生變化，得到一觸發訊號。而量測時，所產生之接觸力會有過大之疑慮或是感測器昂貴等問題。 本探頭利用金屬導體之特性進行設計開發，當接觸力為臨界接觸，可防止其探針和待測物受到破壞。再利用電路製作觸發量測系統。 前言 優點 缺點 一般接觸式 沒有傾斜與對焦的問題 不適合軟薄及微型工件 不易受環境的影響 探頭半徑需補正 不易受反射率的影響 磨耗損壞 接觸力的控制 光學非接觸式 適合軟薄及微型工件 易受環境的影響 不需探頭半徑補正 易受反射率的影響 不會磨耗損害 傾斜與對焦的問題 無接觸力的問題 具導電性接觸式 接觸力為臨界接觸 量測物須為導體 較無磨耗損壞 量測物表面須為乾淨表面 無複雜結構 各類探頭比較 當探針和待測物接觸後，會使電組之電壓產生變化。 擷取其電壓進行判別，確認此電壓為觸發之訊號而非外界雜訊。 在確認為觸發訊號後，紀錄其馬達之移動距離，進行多點量測後，繪製其結果。 量測流程 探針選用與製作 三次元量測是利用探針前端之圓球接觸工件後，得到一觸發訊號。故探針的長度和前端圓球尺寸將決定能測得的工件大小。 而由於目前市售的紅寶石探針其前端圓球為0.3mm，且無法導電，須自行加工製作探針。 選用放電加工法進行加工，由於放電加工所使用之電極需為導體，故不會有探針前端圓球導電性不佳之問題。 探針選用 線放電研磨法示意圖 以線放電研磨法(WEDG)進行探針之製作。 線放電研磨法指利用金屬線逐漸靠 近電極進行放電加工，如圖，而在 放電的過程中金屬線電極同時也會 被消耗，造成加工的不精準，而線 放電研磨法在加工時，不斷送出金 屬線，以新的接觸面進行加工，而 已消耗的金屬線不重複使用，故不 會影響其加工精度。 探針製作-放電加工法 觸發電路的設計 本專題自行設計一電路來進行探頭觸發量測。利用低能量和金屬導電的原理設計。 電壓設定大，電壓上升時間較長，訊號判讀時間長，會造成探針持續前進。 若電壓設定小，電壓快速上升，容易因電源的漣波、外界雜訊或其他電器雜訊造成觸發的誤判。 觸發電路示意圖 電路設計 夾持系統與影像系統 夾持系統 夾持探針之元件是採用小型三爪式夾頭，其性能穩固可防止探針於量測時鬆脫掉落或移位。 在導電臺下方加入一壓克力板，其作用為固定導電臺位置，同時也與外界絕緣，讓整體系統在量測時，只有探針和工作臺為電路觸發之導通元件。 夾持系統與影像系統結合圖 影像系統  本專題自行設計開發一顯微影像系統以觀察探針之即時情形，此影像系統利用市面上容易取得的網路攝影(Webcam)，因其成本低且技術成熟，解析度也不斷的提升，是相當好的影像觀測元件，並搭配一顯微物鏡，並計算模擬其成像距離。 夾持系統與影像系統結合圖 夾持探針採用小型三爪式夾頭，因組裝和取得容易。 而探針安裝於三爪式夾頭時，其中心容易對正，只要探針本身沒有任何變形，安裝後較無傾斜之疑慮。 由於三爪式夾頭與其它結構皆為金屬製品，而為避免影響其周圍設備和安全等疑慮，在組裝時必須增加一層絕緣層絕緣，讓整體系統在量測時，只有探針和待測物為導通元件。 探針安裝 目前進度與結論 在幾個月來與組員們的共同努力之下，已經漸漸進入了此專題的主要軌道上，但是由於某些知識與技術方面上的程度不足，在焊接排線的過程中有遇到一些困難，所以目前進度只到電路板焊接完畢，而剛開始準備要進行量測的階段，雖然目前的進度有些落後，但是相信之後經過深入的探討與努力之後，一定可以很順利。 未來發展 未來發展 本專題所製作之探頭和觸發電路應於綜合加工機上，由於機台所使用伺服馬達搭配光學尺進行量測。其馬達導螺桿牙距將決定馬達平台移動的最小距離。 若量測時，探針和待測物之間之距離小於馬達最小移動距離時，會造成探針受到接過大的接觸力而受到損壞。 使用接觸導通使電壓變化的方式進行訊號偵測，當 待測物表面有氧化物或附著其他汙漬時，會造成探針和待測物之間無法導通或產生過多雜訊。 [1] T. Masuzawa, M. Fuijno, K. Kobayashi and T. Suzuki, “Wire Electro-Discharge Grinding for Micro-Machining”, CIRP Annals – Manufacturing Technol