X射线荧光分析的原理解析.doc

XRF的理论 原理简介 XRF理论 原理简介 作者：Peter Brouwer 编译：杨成选 校对：高新华 Peter N. Brouwer 1958年4月2日生于荷兰Almelo。他在Enschede技术学院学习应用数学，1985年毕业。同年12月进入菲利浦分析仪器部，即现在的帕纳科。在这里他与Eindhoven的菲利浦研究实验室密切合作从事分析软件模型的开发。 他的另一项活动是长期参与XRF培训教程的编写工作，因而有了本书的问世。本书的目的在不涉及复杂的数学公式和深奥的理论的前提下，只对XRF作一个一般性介绍，使得XRF初学者能够容易的阅读和理解。 目录 前言 什么是XRF XRF基础 3.1 什么是X射线 3.2 X射线与物质的相互作用 3.3 特征荧光辐射的产生 3.4 吸收和增强效应 3.5 吸收和分析深度 3.6 瑞利和康普顿散射 3.7 偏振 XRF光谱仪 EDXRF光谱仪 2维光学EDXRF光谱仪 3维光学EDXRF光谱仪 WDXRF光谱仪 EDXRF与WDXRF光谱仪的比较 X-射线管 二次靶 4.5.1 荧光靶 4.5.2 巴克拉靶 4.5.3 布拉格靶 4.6 探测器与多道分析器 4.7 多道分析器(MCA) ED固体探测器 封闭探测器 闪烁探测器 逃逸峰和堆积峰 不同探测器间的比较 滤光片 衍射晶体和准直器 光阑 自旋 真空与He气系统 XRF分析 5.1样品制备 5.1.1固体 5.1.2 粉末 5.1.3玻璃熔珠 5.1.4 液体 5.1.5 滤纸上物料 XRF测量 5.2.1 优化测量条件 EDXRF定性分析 5.3.1峰搜索与峰匹配 5.3.2解谱(卷积)与背景拟合 WDXRF?定性分析 5.4.1峰的搜索与匹配 5.4.2 测量峰的高度与背景扣除 5.4.3 谱线重叠修正 5.5 计数统计与检测限 5.6 EDXRF与WDXRF定量分析 5.6.1 基体效应基体校正模型 5.6.1.1 影响系数基体校正模型 5.6.1.2 基本参数(FP) 基体校正模型 5.6.1.3 康普顿基体校正模型 5.6.2 谱线重叠校正 5.6.3 漂移校正 5.6.4 薄样品 5.7 分析方法 5.7.1 平衡化合物 5.7.2 归一化 5.8 无标样分析 6. 参考文献 索引  1. 前 言 本手册提供X-射线荧光光谱仪及XRF分析的概括性介绍。简要说明光谱仪如何工作以及如何进行XRF分析。它是专为XRF分析领域中刚刚入门的人而写。书中尽量避免使用难以理解的数学公式,因此本手册只需具备一些基本的数学和物理知识。 本册子并非专门针对某一种型号的光谱仪或某一应用领域，其目的仅就主要的光谱仪型号及应用领域做一概括性的介绍。 手册第2章简单介绍XRF及其好处；第3章介绍XRF的物理基础；第4章介绍光谱仪的原理及构件；第5章介绍XRF分析如何进行。手册介绍了样品的采集、测量及由测量结果计算组成等过程。最后，第6章列出了有关XRF分析的参考文献。 2．什么是XRF XRF是一种确定各种材料化学组成的一种分析方法。被测材料可以是固体、液体、粉末或其它形式。XRF还可测定镀层和薄膜的厚度及成分。XRF具有分析速度快、准确度高、不破坏样品及样品前处理简单等特点。应用范围广泛，涉及金属、水泥、油品、聚合物、塑料、食品以及矿物、地质和环境等领域，在医药研究方面，XRF也是一种非常有用的分析方法。 X荧光光谱仪可分为能量色散（EDXRF）和波长色散(WDXRF)两大类，随后将详细介绍。可分析的元素及检测限主要取决于所用的光谱仪系统。EDXRF分析的元素从Na到U； WDXRF分析的元素从Be到U。浓度范围从ppm到100％。通常重元素的检测限优于轻元素。 XRF分析的精密度和重现性很高。若有合适的标准，分析的准确度非常高，当然没有标准时也可以分析。测量时间取决于待测的元素数目和要求的精度，在几秒至30分钟间变动。测量后的数据处理时间只需几秒钟。图1显示用EDXRF测得油的土壤样品一组典型