迈克尔干涉仪的应用_温兴林.pptVIP

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2017-01-24 发布于天津
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迈克尔干涉仪的应用_温兴林

迈克尔逊干涉仪的应用姓名：温兴林学号:200731020086 迈克尔干涉仪在历史上具有重要地位 1 测量以太漂移的速度（1877年） 2 研究光谱线的精细结构（1892年） 3 以镉红线波长为单位直接与米原器进行比较精密测量中的应用说明光源1发出的光线经透镜2会聚后，再通过滤光片3投射到分光镜4上，分光镜于是把投射到其上的光线分成两部分:一部分光被反射，向参考镜7传播，再经参考镜反射回分光镜;另一部分光则透过分光镜及补偿镜5向平面反射镜6传播，经平面反射镜反射后，再穿过补偿镜，到达分光镜处。由于这两部分光是由同一束光分出的，因此是相干光，相遇时会产生干涉现象。其干涉条纹可通过物镜8成像于目镜分划板9上由于平面反射镜与测量杆10固定在一起，当被测物体尺寸发生变化时，将引起平面反射镜和测量杆上下移动，于是上述两部分光将产生光程差，从而引起干涉条纹的移动，干涉条纹的移动量则对应于测量杆移动的距离。测量时，先选一个与被测物体同尺寸的标准量块放在测量杆下面并与之接触，调节补偿镜使干涉条纹对准零位。然后取下标准量块，放上被测物体，由于被测物体尺寸与标准量块间存在微小差值△L，于是将引起干涉条纹的移动。其微小差值可采用如下方法计算 2△L=k1M1 （1） 2△L=k2M2 (2) 设 K1=K2+△k （3) 则（1）式变成 2△L=(k2+△k)M1 (4) （2）式变成 K2=2△L/M2 (5) 合并（4）和（5）得 2△L=(2△L/M2+△k)M1 则 △L=△kM1M2/2(M2-M1) 若已知M2和M1，只要测出△k的值，就算出△L。于是，被测物体的尺寸为： L=L0+△L * *