第三篇可靠性设计(四).docVIP

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  • 2017-02-03 发布于天津
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第三篇可靠性设计(四)

第三篇 可靠性设计(四) ? ? ? ? ? 1.3 减额设计技术 ??? 元器件在安全区内使用,是可靠性设计的最低要求。为了进一步降低电路的失效率,提高产品的可靠性,必须重点考虑元器件负荷的减额设计。 所谓减额设计就是使元器件应用于比额定值低的应力状态的一种设计技术。元器件的可靠性与其系统的应力强度之间有一定的依赖关系,应力越大,可靠性越低。考虑到元器件的性能参数都呈现某种分布特性,只有采用减额设计技术才能获得较大的安全裕度。 对不同的元器件,降额的方法是不一样的,电阻器的降额方法是降低功率比,电容器是降低其工作电压,半导体器件的降额方法是将工作功耗保持在额定功耗之内,数字集成电路是通过降低周围环境温度和电负荷来降额,线形集成电路、大规模集成电路和半导体存储器也是通过降低周围环境温度来实现降额的。 ???? 在系统的设计中,一般采用的应力水平是额定应力的0.3~0.5,以某系统中的通讯部分的信道板和I/O模板中的采样扩展板为例进行定量分析,从而有力地说明了采用减额设计对系统可靠性水平的提高的巨大效果。 ????????????????????? 表1 部分元件应力比——失效率表 ??????????????? ??? 首先,我们分析一下表1所列的几种元器件在不同的应力比下的失效率数值,就可以明显看出,设计时采用的应力水平,直接影响元器件失效率水平,从

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