【2017年整理】X衍射晶体学总结.docVIP

7大晶系 32个点群 各个晶系的对称元素 a=b=c ?α=β=γ=90° 四方晶系 a=b≠c ?α=β=γ=90° 正交晶系 a≠b≠c α=β=γ=90° 三方晶系 a=b=c α=β=γ≠90° 六方晶系 a=b≠c ?α=β=90°, ?γ=120° 单斜晶系 a≠b≠c α=γ=90°, β≠90° 三斜晶系 a≠b≠c α≠β≠γ≠90° 晶体中只存在有8种独立的对称要素分别为： 任何宏观晶体所具有的对称性都是这 8 种基本对称要素的组合。将晶体中可能存在的各种宏观对称要素通过一个公共点，按一切可能性组合起来，总共有32种型式，构成32个晶体学点群。 晶系 特征对称元素 三斜 无 单斜 一个C2或M 正交 三个C2或M 四方 一个C4 六方 一个C6 三方 一个C3 立方 四个C3 晶体结构与点阵的关系质量系数与线性吸收系数的含义差别(cm-1)的含义：μ表示X射线通过单位长度物质时强度的衰减． 又∵ 强度为（垂直于传播方向上）单位面积的能量， ∴ ?亦为X射线通过单位体积物质时能量的衰减． 质量吸收系数μm(cm2.g-1)的含义：μm为X射线通过单位质量物质时能量的衰减，亦称单位质量物质对X射线的吸收． X射线与物质的相互作用晶体结构和点阵的关系 衍射方向与什么有关X射线的反射, 只有当入射角θ、波长λ、面间距d之间满足布拉格方程2dsinθ = n λ时才能发生，因此把X射线这种反射称为选择反射, “选择反射” 即反射定律 + 布拉格方程是衍射产生的必要条件．即当满足此条件时有可能产生衍射；若不满足此条件，则不可能产生衍射。 强度与什么有关:I相对=F2 P（1+cos22θ/sin2 θcosθ）A e-2M 式中：F——结构因子； P——多重性因子； 分式为角因子，其中θ为衍射布拉格角； A ——吸收因子； e-2M ——温度因子。 米勒指数干涉指数的求法影响连续谱强度的的因素 式中α为常数 物相定量分析中K值法与内标法的差别K的处理上不同。内标（曲线）法的比例常数与内标物质含量有关， 而K值法的比例常数K与内标物质含量无关， 几种格子的消光规律 元素散射因子的物理意义 X射线衍射仪的计数测量方法 短波限的影响因素 元素产生X射线的强度:I相对=F2 P（1+cos22θ/sin2 θcosθ）A e-2M 式中：F——结构因子； P——多重性因子； 分式为角因子，其中θ为衍射布拉格角； A ——吸收因子； e-2M ——温度因子。 X射线连续谱特征怎么产生的有什么应用连续谱?E）转为所发射X射线光子能量（h?），即h?=?E。由于击靶的电子数目极多，击靶时穿透的深浅不同、损失的动能不等，因此，由电子动能转换为X射线光子的能量有多有少，从而形成一系列不同频率、不同波长的X射线，构成了连续谱。 特征谱的产生： 管电压增加到某一临界值(激发电压) 使撞击靶材的电子能量（eV)足够大， 可使靶原子内层产生空位, 较外层电子向内层跃迁, 产生波长确定的X射线(特征X射线) X射线衍射可以用来做物相分析（包括定性分析和定量分析）、晶体结构分析、晶体定向、非晶体结构分析、晶体粒度测定、宏观应力分析等。 特征谱的应用：X射线特征谱通过晶体时发生衍射，因而可用来研究晶体的内部组织和结构。 Ka 、Kb的波长，怎么判断hμL →K = EL – EK 由近邻L层电子填充K层的空位后所产生的特征X射线，称Kα辐射； 由次近邻M层电子填充K层的空位后所产生的特征X射线，称Kβ辐射。 特征X射线光子能量＝跃迁前后能级差 则Kβ能量大于Kα，由于光子的能量与波长成反比，所以Kα波长大于Kβ。 简单格子体心格子面心格子的消光规律怎么结构因子FHKL的计算可按下式计算:FHKL=Σfj exp[2πi(Hxj + Kyj + Lzj)] (1) 计算简单点阵晶胞的FHKL与|FHKL|2 值 简单点阵，每个阵胞只包含一个原子，其坐标为(0, 0, 0)，原子散射因子为f， 代入结构因子表达式: FHKL =Σfj exp[2πi(Hxj + Kyj + Lzj)] 得 FHKL = f exp2πi( 0+0+0) = f 则 |FHKL|2 =f2 结论：在简单点阵情况下，FHKL不受HKL的影响，即HKL为任意整数时，都能产生衍射。 (2) 计算体心点阵晶胞的FHKL与|FHKL|2 值 每个晶胞中有2个同类原子，其坐标为(0, 0, 0)， (1/2, 1/2,