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隆重推荐 RX-400红外测厚仪 在片状材料的工业生产中，对钢材薄膜等产品上氧化膜的厚度和微量涂层厚度的检测是一个比较复杂和昂贵的过程。因为它不仅涉及到原材料的消耗，还关系到产品的质量。截止到今天出现过多种非接触式的测量方法，如电容法、微波法、射线法等，但是它们或多或少都存在着测速慢、测点少、无法连续快速动态测量、对人体有害等问题，而现在我们有了一种优化的解决方案，那就是无机涂层及微量涂层检测设备——RX-400红外测厚仪（图一）。 图一 RX-400实物图 简介 与其他测量方法相比较，红外测厚有不可比拟的优点如非接触且应答速度快，可以连续测量且对测量物影响小；不像射线测厚仪那样需遵从法律规定进行安全管理，操作也简单；而且不易受到测量物的振动、表面状态和颜色、污浊等的影响；特别是通过组合最合适的波长，测量对象和材质，测量膜厚的范围也扩大。而RX-400红外测厚仪就是这样一款可以检测无机涂层、超薄涂层和复合薄膜的仪器，相对于RX-210等其他测厚仪它更适合与在线检测，它主要用于钢板上氧化表膜的厚度检测如SiO2、磷化物；薄膜上聚硅酮涂层厚度检测及复合薄膜的各层厚度检测等。 测量原理 红外线波长从2μm到20μm的领域，发生固有的特性吸收。这种特性吸收是由分子的各原子间化学结合力和各原子的质量形成的固有独特的表现。水(H2O)和聚乙烯(-CH2-CH2-n的)红外吸收光谱。可以观察到水在1.9μm和2.9μm的-OH基，聚乙烯在2.3μm和3.4μm的-CH基出现吸收 图二 水、聚乙烯的红外吸收光谱 红外吸收光谱表示膜厚度的差异呈现在光谱上。 膜厚度不同的水膜红外吸收光谱因此选择最适合的波长带，测量吸收量，从理论上讲可以测量从0.1μm极薄涂层到数mm的厚涂层。所以，在只测量对象物膜厚的加工业界中，可以选择最合适波长带的红外线方式比起其他测量原理的测厚仪有很多优势。  被检测物在红外线的照射下，对应波长的红外线被相应的涂膜所吸收。而这种红外线被吸收的强度可以由相应的感应器所捕捉。通过对采集到的数据进行比较分析处理就可以对膜厚进行测定。在数据采集的过程中，应用到了KURABO公司的P偏光专利技术，可以大大减少由于样品表面的反射和界面多重反射带来的误差，这是红外线测量仪器理想的和处于领先地位的硬件条件。比如可以用RX-400来检测PVDC薄膜上无机磷化物的厚度（见图五），这是普通红外线膜厚计所不能做到的。同样，这也可以测量SiO2、铬酸等。 图五 RX400与其它测厚仪比较 图六 用RX400测量SiO2层 性能参数 测量说明 测光方式 红外反射吸收方式 分光方式 旋转滤波方式(6个滤波片) 测量距离 40mm(从本体部下面) 测量面积 20*30mm（椭圆） 装置说明 尺寸：410（W）*207（D）*160（H) （含突起部分） 重量：8.5Kg 尺寸：322（W）*113（D）*140（H) （含突起部分） 重量：4Kg 电源：AC100V±10% 50/60Hz 200VA 尺寸：300（W）*275（D）*165（H） （含突起部分） 重量：6Kg 电源：AC100V±10% 50/60Hz 200VA 0-10V，4-20mA模拟输出（出厂时设定） 使用温度 5-40°C（结露） （2） 薄膜上聚硅酮涂层厚度检测 （3） 高功能薄膜的涂层厚度检测 （4） 复合薄膜的各层厚度检测 特长 （1）与X射线比较设备价格低 （2）适于在线测量，可以钢板等40mm检测 （3）精度高 可以检测原来的红外线膜厚度计无法测量的无机涂膜厚度及超薄涂层的厚度 需要更多信息请联系总代理韵鼎（香港）集团有限公司电话021-6，021-6145-5228，Email: sales@。