测量系统分析.pptVIP

測量系統分析（MSA） 测量系统所应具有之统计特性 足够的分辨率；（10－1法则） 测量系统必须处于统计控制中； 测量系统的变差必须比制造过程的变差小（过程控制）。 变差应小于公差带（产品控制）。 各项定义 量具: 任何用来获得测量结果的装置，包括用来测量合格/不合格的装置 。 测量系统：用来获得表示产品或过程特性的数值的系统，称之为测量系统。测量系统是与测量结果有关的仪器、设备、软件、程序、操作人员、环境的集合。 量具重复性：指同一个评价人，采用同一种测量仪器，多次测量同一零件的同一特性时获得的测量值（数据）的变差。 量具再现性：指由不同的评价人，采用相同的测量仪器，测量同一零件的同一特性时测量平均值的变差。 稳定性：指测量系统在某持续时间内测量同一基准或零件的单一特性时获得的测量值总变差。 偏倚:指同一操作人员使用相同量具，测量同一零件之相同特性多次数所得平均值与采用更精密仪器测量同一零件之相同特性所得之平均值之差，即测量结果的观测平均值与基准值的差值，也就是我们通常所称的“准确度” 线性：指测量系统在预期的工作范围内偏倚的变化。 分析时机 新生产之产品PV有不同时 新仪器，EV有不同时 新操作人员，AV有不同时 易损耗之仪器必须注意其分析频率。 稳定性分析 选取一个样品, 并建立可追溯标准基准值, 若无样本则可从生产线中取一个落在中心值域的零件\当成标准值, 且应针对预期测试值的最低值，最高值及中程数的标准各取得样本或标准件, 并对每个样本或标准件单独测量并绘制控制图.(所以可能是须做三张控制图来管制仪器之高、中、低各端，但一般而言，只需做中间值那个就可以了) 定期(时、天、周)对标准件或样本测量3～5次. 注意, 决定样本量及频度的考虑因素应包括要求多长时间重新校正或修理次数, 测量系统使用的频度与操作环境(条件)等. 将测量(数据)值标记在X-R CHART 或X–S CHART上. 计算控制界限, 并按标准图判断失控或不稳定状态 。 计算标准差, 并与测量过程偏差相比较, 以评估测量系统的重复性是否适于应用.不可以发生此项之标准大于过程标准差之现象，如果有发生此现象，代表测量之变异大于制程变异，此项仪器是不可接受的 。 稳定性之判定：稳定性之判定一般方式和控制图之判定方式是一致的，(一)不可以有点子超出控制界限，(二)不可以有连续三点中有二点在A区或A区以外之位置，(三)不可以有连续五点中有四点在B区或B区以外之位置，(四)不可有连续九点在控制图之同一侧，(五)不可以有连续六点持续上升或下降之情形；如果有以上之情形，代表仪器已不稳定，须做维修或调整，维修及调整完后须再做校正以及稳定性之分析。 偏倚分析 独立样本法 : 选取一个样品, 并建立可追溯标准之真值或基准值, 若无样本则可从生产线中取一个落在中心值域的零件, 当成标准值,可针对预期测试值的最低值、最高值及中程数的标准各取得样本或标准件，每个样本都要求单独分析，并对每个样本或标准件测量10次, 计算其平均值, 将其当成 “基准值” . 由一位作业者以常规方式对每个样本或标准件测量10次. 并计算出平均值, 此值为 “观测平均值” . 计算偏倚 : 偏倚= 观察平均值 – 基准值 计算重复性标准偏差： σr =(max(xi)-min(xi))/d2* (其中d2*查表可得)。 c.计算均值标准偏差 d.计算t统计量 t=偏倚/σb e.计算置信区间 其中：d2、d2* 、v查MSA手册附录C（g=子组数,m=子组容量）; 显著t值 tv,1-α/2查标准t表（α取0.05） 结果分析 如果0落在偏倚值1-α置信区间内,则偏倚在α水平是可以接受的.。 如果偏倚较大，查找以下可能的原因： 标准或基准值误差，检验校准程序。 仪器磨损，主要表现在稳定性分析上，应制定维护或重新修理的计划。 制造的仪器尺寸不对。 仪器测量了错误的特性。 仪器校准不正确，复查校准方法。 评价人员操作仪器不当，复查检验方法。 仪器修正计算不正确。 练习 线性分析 独立取样法 : 针对产品所须使用之范围，利用标准件或产品样本(一般区分为五个等分，其范围须包括产品之规格公差之范围)来做仪器之线性分析，如果是采用标准件须有真值，如果是使用产品样本时，则这些的产品样本须先经精密测量十次以上，再予以平均，以此当做是「真值」或「基准值」 。 由一位作业者以常规方式对每个样本或标准件测量10次. 并计算出平均值, 此值为 “观察平均值” . 计算偏倚 : 偏倚= 观察平均值 – 基准值 绘图 : X轴=基准值 Y轴= 偏倚 其方程式为: y=ax+b 再分别计算其截距、斜率、置信带