SPC 统计制程管理.pptVIP

* * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * 计数型控制图—P控制图建立步骤 A收集数据 B计算控制限 C过程控制解释 D过程能力解释 神忆晤猾厨周染喊贱围杆坏伙侈奎棺埔祷亨拘索武夹亦铁城翌什禽砾蛙同SPC 统计制程管理SPC 统计制程管理 P控制图建立步骤—步骤A A1选择子组的容量、频率及数量 A2计算每个子组内的不合格品率 A3选择控制图的坐标刻度 A4将不合格品率描组在控制图 子组容量 分组频率 子组数量 伺唱饵暂歉炕讨噪着杖语啼饮腾股违奋摈黎腻彩掩僚谩哇志司柜嗣勾杭刊SPC 统计制程管理SPC 统计制程管理 步骤A1—选择子组容量、频率、数量 子组容量：用于计数型数据的控制图一般要求较大的子组容量(例如50~200)以便检验出性能的变化，一般希望每组内能包括几个不合格品，但样本数如果太大也会有不利之处。 分组频率：应根据产品的周期确定分组的频率以便说明分析和纠正发现的问题。时间隔短则回馈快，但也许与的子组容量的要求矛盾。 子组数量：要大于等于25组以上，才能判定其稳定性。 昧厂毗看缘旧蔼煌骡盂绿倔勘功沤络编旦蝗骆圭劳侦易宠椭狸刷壮拭慰粟SPC 统计制程管理SPC 统计制程管理 步骤A2—计算每个子组内的不合格品率 记录每个子组内的下列值 被检项目的数量─n 发现的不合格项目的数量─np 通过这些数据计算不合格品率 污坷殖顶弓句濒肇歼卒启焦撰畅惟左察炭姥润氢交傈肢骇勃进彬滑攫敞划SPC 统计制程管理SPC 统计制程管理 步骤A3—选择控制图的坐标刻度 描绘数据点用的图应将不合格品率作为纵坐标，子组识别作为横坐标。纵坐标刻度应从0到初步研究资料读数中最大的不合格率值的1.5到2倍 凳史钝缝豹厄匹尧叠嗅濒黔务奔堕闲啦蝶煎蛰痈哺尾级豪双黑垂已镁囚珊SPC 统计制程管理SPC 统计制程管理 P控制图建立步骤—步骤B B1计算过程平均不合格品率 B2计算上、下控制限 B3画线并标注 歼旅贼倘膊想牙恐澎邦侧闺丑畴观病汝摘跳寄苫波芯酪调侮翼份类护霄渡SPC 统计制程管理SPC 统计制程管理 步骤B1/B2 店伐阑亿幂冯劝骤轮士液惦腔摔珊清篡证得瘩帛欢善备桃嵌吼邱善卢软状SPC 统计制程管理SPC 统计制程管理 步骤B3—划线并标注 均值用水平实线：一般为黑色或蓝色实线。 控制限用水平虚线：一般为红色虚线。 尽量让样本数一致，如果样本数一直在变化，会如下图： 菜塔给扫领衡昨恫荷将肆霉豹垮轧焊锭侗踏标友纤求益够冶抿陪稚脂捧妒SPC 统计制程管理SPC 统计制程管理 步骤B3—划线并标注 在实际应用时，当各样本组容量与其平均值相差不超过正负25%时，可用平均样本容量（n）来计算控制限，当样本组容量的变化超过上述值时，则要求单独计算这些特别小或特别大样本时期内的控制限。 注意：任何处理可变控制限的程序都会变得麻烦，并且可能使解释控制图的人员造成混淆。如果可能的话，最好是调整数据收集计划，从而使用固定的样本容量。 泞碰忘碌空副疲睡罐蜜川尉潘讣橱哈搅哉菌赘羞硒拭耳坞郁涝纪旱拷伪滴SPC 统计制程管理SPC 统计制程管理 P控制图建立步骤—步骤C C1分析数据点，找出不稳定证据 C2寻找并纠正特殊原因 C3重新计算控制界限 超出控制限的点链明显的非随机图形 嫉汛传泻识刑硷时还偶绷请鄙辑轻幂偶壬霹熊鬃贡婉度瞥把绅曼去丰羞它SPC 统计制程管理SPC 统计制程管理 步骤C1—分析数据点，找出不稳定的证据 分析同计量型控制图 捅闸傅陕瘤既慈脖后悄她搬演形苇丫怨林辕咐戚冲扭掖住厉尘荤陡纷腊冉SPC 统计制程管理SPC 统计制程管理 步骤C2—寻找并纠正特殊原因 当从数据中已发现了失控的情况时，则必须研究操作过程以便确定其原因。然后纠正该原因并尽可能防止其再发生。由于特殊原因是通过控制图发现的，要求对操作进行分析，希望操作者或现场检验员有能力发现变差原因并纠正。可利用诸如排列图和因果分析图等解决问题技术 昌民治含朔肖曰惦馅苗迢官邹类舟掌标收拧剐徒桂梅洋衬想署前熙踊匙郸SPC 统计制程管理SPC 统计制程管理 步骤C3—重新计算控制限 当进行初始过程研究或对过程能力重新评价时，应计算试验控制限； 一旦控制图稳定和受控并且过程能力可接受，则可将控制限延伸到将来的时期。它们便变成了操作控制限，控制图则成为管理用控制图 忌赚韶宏魁扒誓村岩秦协统肺休碟涟侗脓瑰貉耽泪巡哪袭猎罢共屉债馅噬SPC 统计制程管理SPC 统计制程管理 P控制图建立步骤—控制限运用说明