一、测量误差.ppt

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一、测量误差

第二章 放射性样品测量技术 第一节 放射性样品的测量 一、测量的一般目的 放射性测量一般是指对核素(示踪剂)发射的射线的强度和能量的测量。 二、测量的类型及其应用范围 1.绝对测量 ? Absolute ?Counting 凡不需要借助中间手段,直接侧得放射性 活度的一类测量,称为绝对测量,很少使用 。 2.相对测量Relative Counting 凡借助于某中间手段(某一标准装置或标准样品),获得样品放射性活度的测量,称为相对测量。生物医学中普遍采用这类测量方法。 测量数据为计数率CPM(count per minute) ---换算成衰变率DPM(decay per minute) 相对测量的目的分类 按实验目的分类 : 定性测量 定位测量 定量测量 按射线类型分类 : ?测量 β—测量 γ测量 第二节 核探测仪器的选择及影响测量的因素 应根据实验的具体条件、方法、目的以及测量的要求等因素来选择测量仪器。此外,选择时还要考虑仪器的价格及使用效益。 多数核医学实验室主要使用两种计数仪:液体闪烁计数器和固体闪烁计数器。 1. ?计数 首选仪器 :ZnS(Ag)荧光体(薄层)组成的闪烁计数器 ----需用薄层样品,优点是分辨时间短、本底低、探测效率高。 G-M计数管(Geiger Muller Counter) :薄端窗( 0.5~1.0mg/cm2) ,结构比较简单,探测效率低,可测量放射性活度高、能量强的样品 。 液体闪烁计数器 硅面叠型半导体探测器 多道脉冲分析器 2.β-计数 β-辐射体发射的射线能量的不同,采用不同的测量仪器和方法 低能β-粒子采用液体闪烁计数器进行测量,如3H,14C用液体闪烁计数器测量时,探测效率可分别达到60%和90% 薄塑料闪烁体组成的闪烁计数器,对γ射线不灵敏、本底低,可用于能量不太低的固体β-样品的测量 端窗G-M计数管,能量强和活度高的β-粒子 硅面叠型半导体探测器 3.γ计数 NaI(Tl)闪烁计数器是首选的仪器。它的探测效率比G-M管高得多,一般为10%—20% ,分辨时间在1.5υs(微秒)范围内 G-M计数管和硅面叠型半导体探测器一样,对γ射线的探测效率低(约为l%)。 二、影响测量的因素 样品计数服从于统计规律,同时又受到许多因素的影响。 1.几何位置 几何位置是指样品与探测器的相对位置。 2.测量系统 (l)探测器的探测效率 探测效率(Detection Efficiency)是指被测放射性物质所放射的粒子进入探测器后,被记录下来的概率。通常定义为测量系统所记录的脉冲数与被测放射性物质所发出的总粒子数或光子数之比。 (2)吸收 射线从源(样品)到探测器,要穿过样品层、容器壁、空气层、探测元件和包封材料,其能量被削弱,导致计数率下降,这种现象称为放射性吸收。(3)散射 射线与物质相互作用时,除了消耗能量外,还发生运动方向改变,产生散射效应. 3.放射性核素衰变方式影响 有些核素的衰变方式不只一种,有些核素在一次衰变过程中不只是发射一种粒子 ,如:131I的衰变过程中,概率最高的衰变方式是发射出一种β-粒子(0.607MeV),同时又发射出能量为0.364MeV的γ光子。这种衰变方式占总衰变方式的86%;而γ光子发射又占这种衰变的94.2%。如果只测量γ光子,其强度只能是总强度的86%×94.2%。可见,只有经过衰变方式校正后,才能准确计算总强度。 4.本底的影响 在无样品(或源)存在时,探测器记录的脉冲数为本底(Background)。造成本底的因素很多,宇宙射线、周围环境和探测器本身所含的天然放射性核素,放射性核素的污染,邻近放射源、仪器的噪声及电压的变化等 第三节 测量误差 放射性核素的衰变完全是一种偶然事件。这种偶然事件出现的概率具有统计学规律。 进行放射性测量时,虽然测量条件相同,但每次重复测量的结果则不完全相同,有时差别很大。这是放射性测量与其它测量相区别的重要特点。 一、测量误差 在测量过程中,由各种因素的影响带给测量结果的误差 ; 测量误差分为二类: 一类是放射性衰变的统计涨落引起的--核衰变的偶然性质使得相同条件下测量的、同一样品的每次测量结果围绕某一真值上下波动所致。这种由放射衰变的统计性质引起的误差称统计误差。 一类是测量仪器的性能变化,样品的个体差异,样品在探测器中位置

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