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GaN_SinpnHBT特性研究.pdf
第36卷 第 1期 电 子 器 件 V0l_36 No.1
2013年 2月 ChineseJournalofElectronDevices Feb.2013
GaN SinpnHBT CharacteristicsofStudy
. — —
DONGGuoxiang,LIJianqing
(InstituteofPh~walElectronics,UniversityofElectronicScienceandTechnologyofChina,Chengdu610054,China)
Abstract:GaN/Siheterojunctionbipolartransistorcharacteristicssimulationwasstudiedusingtwo.dimensional
devicesimulationsoftware.GaN/Siheterojunctionbipolra transistortoestablishaseriesofreasonbalyaccurate
physicalmodels,includingincompleteionizationmodel,bandnarrowsmodel,mobilitymodelandthecompositemode1.
TheresultsfromexperimentshowedthatintheGaN/Sihetero-junction,theturn—onvoltageis2.5eV.Ib=0.2mA,the
currentamplificationfactoris100timesandthebreakdownvoltageis900V,whichmakethishetero-junctionbipolor
transistorobtainagreatapplicationprospectedintheraeaofhigh—powerdevices.Th ehighestcut—offfrequencyis100
GHz,SOthatitcanworkintheRFandmicrowavefrequencybands.
Keywords:heterojunctiondevice;physicalmodel;simulation;GaN
EEACC:2560J doi:10.3969/j.issn.1005-9490.2013.01.002
GaN
— SinpnHBT特性研究
董果香,李建清
(电子科技大学物理电子学院,成都610054)
摘 要:采用二维器件仿真软件对GaN/Si异质结双极晶体管进行了特性仿真研究。对GaN/Si异质结双极晶体管建立了合
理准确的物理模型,包括不完全电离模型、能带模型、能带变窄模型、迁移率模型与复合模型。结果表明,GaN/Si异质结开启
电压为2.5eV。在 Ib=0.2mA时,电流放大倍数为 100倍。击穿电压为900V,使其在大功率器件方面有很大应用前景。最
高截止频率为 100GHz,使其可工作在射频和微波频段。
关键词 :异质结器件;物理模型;仿真;GaN
中图分类号:TN303 文献标识码 :A 文章编号:10O5—949O(2O13)01—0005-04
GaN半导体材料作为新型宽禁带材料,在光电 GaN/Si/Si双极晶体管的发射结为异质结,比
领域和高功率高频电子器件方面有很大的应用 。 同质结具有更高的注入效率,产生了许多优 良的性
在现有的工艺条件下,GaN单晶尺寸很难生长较 能,例如具有更高的载流子调制能力和更低的导通
大,GaN器件多以蓝宝石或 SiC为衬底 [21。GaN与 电阻。在HBT掺杂分布中,基区掺杂大于发射区
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