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基于量子过程层析的量子系统参数测定 吴庆林 陈宗海 (巾国科学技术大学自动化系。安徽，合肥。230027) 摘要：量子层析技术是一项统计测量方法，它通过多次测量来实现量子态密度矩阵的重构．它的一个重要的应用便是量子 过程层析术，为量子通讯中测定量子信道参数提供了有效手段．本文在回顾了量子层析发展历史的基础上，借助量子过程层 析术测定量子信道参数的思想提出了一种测定量子控制系统参数的方法． 关键词：量子层析：量子控制；量子系统 ParameterDetermination o．fQuantumSystems on Process BasingQuantumTomography Wu· Chen Qinglin Zonghai ．． isastatistical method isreconstructed this matrix Abstract：Quantumtomography measurement，indensity byrepeating measurementthe state．Themost of quantum importantapplicationquantumtomography，isquantumprocesftomography, whichisaneffectivemeanjtodeterminethe of this amethodtodeterminethe channel．In parametersquantum paper of control is tothedeterminationof parametersquantum systemsbyquantumprocesstomographyproposedaccording ’ the ofquantumchannel，after history parameters reviewing ofquantumtomography． Keywords：Quantum Control：Quantum Tomography：QuantumSystem 年来量子控制得到了较为迅速的发展0,2∞2I。 1引言 为了实现对量予系统的控制，我们必须要了解被控 量予理论的建立为人们研究微观世界的“奇异”现 系统的状态和性质。由于量子态具有测量塌缩的特性， 象和运动规律提供了必要的理论基础，开辟了人们认识 测量过程本身往往会对系统的状态造成不可逆转的破 微观世界的道路，引导人们把视角和兴趣从宏观领域转 坏，量子系统信息的获取成为一个十分棘手的问题，量 入到微观系统。伴随着一系列有别于经典系统的现象如 子层析技术的出现为这个问题的成功解决提供了一种可 量子纠缠、量子相干、不确定性等纷纷被发现以及这些 能。量子层析是一种通过统计测量的手段来重构完全反 现象在化学