考题材料分析概要.doc

班级： 姓名： 学号： 题号 一 二 三 四 总分 评分 得分 评卷人 判断对错（具体要求: 每小题2分，共10分） 1.透射电镜的分辨率由物镜决定，而扫描电镜的分辨率由所收集信号的分辨率决定。（ ） 2. 当干涉指数为任意整数时，干涉面都代表了一族真实的晶面。（ ） 3.X射线衍射具有“选择反射”特性。即只有当λ、θ、d三者之间满足布拉格方程时才能发生反射，而可见光可以在任何入射角反射。（ ） 4. 衡量一个原子对入射X射线的散射采用原子散射因子，而衡量一个结构对入射X射线的散射采用结构因子。（ ） 5.单晶体电子衍射花样由排列得十分整齐的许多斑点组成；多晶体电子衍射花样是一系列不同半径的同心圆环；非晶体电子衍射花样是一个漫散的中心斑点。（ ） 得分 评卷人 填空题（具体要求：每小题1分，共30分） 1、爱因斯坦称赞劳厄的实验为“物理学最美的实验”，该实验肯定了_____________________________；证实了_______________________；_____________________在同一数量级。 2、X射线的本质为电磁波，具有波粒二相性--既具有_____________，又具有_____________。 3、_________是描述X射线性质的物理量；而_________则是描述X射线数量的物理量。 4、产生特征X射线的最低管电压为_____________，而产生荧光X射线所需要的最长X射线波长为_____________。 5、据入射的X射线波是否有能量损失，散射分为_____________和_____________。 6、X射线在晶体中的衍射现象，实质上是________________________的结果；而X射线衍射理论所要解决的中心问题则是在衍射现象与晶体结构之间建立起_____________的关系。 7、 布拉格方程既可用于____________________的分析，又可用于____________________分析。 8、采用德拜相机照相时，底片的安装常采用_____________法，因为它可以消除因底片收缩、相机半径不准等而产生的误差。 材料或物质的组成包括两部分，一是____________________；二 是________________________________________。 10、X射线物相分析是以____________________为基础，通过比较______________________________来进行分析。 11、电磁透镜的分辨率由_____________决定，而像散则可用_____________进行补偿，减小色差则通过_____________实现。 12、透射电子显微镜一般都采用双聚光镜系统，其第一聚光镜是_____________，将电子枪第一交叉点束斑缩小为φ1μm～5μm；第二聚光镜是_____________，适焦时放大倍数为2倍左右。 13、电子衍射的原理和X射线衍射相似，是以满足（或基本满足）_____________作为产生衍射的必要条件。 14、二次电子对试样表面状态非常敏感，能非常有效地显示试样表面的微观形貌，可用于样品表面的___________分析。二次电子的产额和原子序数间没有明显的依赖关系，不能进行___________分析。 15、用来测定X射线特征波长的谱仪叫做_____________谱仪，用来测定X射线特征能量的谱仪叫做_____________谱仪。 得分 评卷人 简答题（具体要求：本题共6道小题，共40分） 1、讨论下列各组概念中二者之间的关系？⑴同一物质的发射谱和吸收谱；⑵X射线管靶材的发射谱和与其配用的滤波片的吸收谱。（6分） (1）同一物质的吸收谱和发射谱； 答：λk吸收 〈λkβ发射〈λkα发射 (2）X射线管靶材的发射谱与其配用的滤波片的吸收谱。 答：λkβ发射（靶）〈λk吸收(滤波片)〈λkα发射（靶）。任何材料对X射线的吸收都有一个Kα线和Kβ线。如 Ni 的吸收限为0.14869 nm。也就是说它对0.14869nm波长及稍短波长的X射线有强烈的吸收。而对比0.14869稍长的X射线吸收很小。Cu靶X射线:Kα=0.15418nm Kβ=0.13922nm。 (3）X射线管靶材的发射谱与被照射试样的吸收谱。 答：Z靶≤Z样品+1 或 Z靶Z样品 X射线管靶材的发射谱稍大于被照射试样的吸收谱，或X射线管靶材的发射谱大大小于被照射试样的吸收谱。在进行衍射分析时，总希望试样对X射线应尽可