《互换性与技术测量》实验指导书(3个动手实验)讲解.docVIP

实验一 用双管显微镜测量表面粗糙度 一、实验目的 1. 熟悉表面粗糙度的主要评定参数； 2. 掌握表面粗糙的常用测量方法。 二、测量原理及仪器说明 双管显微镜是根据“光切法原理”制成的光学仪器，一般用它测量表面不平度高度Rz。其测量范围取决于选用的物镜放大倍数。通常适合于测量Rz=0.8～80μm的表面粗糙度（有时也可用来测量零件刻线的槽深等）。 仪器的主要性能如表1所列。仪器外形及各部分功能见图1及其说明。利用光切法测量表面粗糙度的原理如图2所示。 表1 物镜放大倍数N 7× 14× 30× 60× 视场直径（mm） 2.5 1.3 0.6 0.3 测量范围Rz（μm） 80～10 20～3.2 6.3～1.6 3.2～0.8 目镜套筒分度值（μm） 1.26 0.63 0.294 0.145 光线经狭缝形成一条扁平的带状光束，以45°的角度投射到被测表面上，有如一平面以45°方向与被测表面相切一样[图2（b）]。由于被测表面并非理想平面，因此截面与被测表面的交线应出现凹凸不平的轮廓线。在另－45°方向观察，就可以见到该轮廓线的影像，此凹凸不平即反映被测表面的不平度，其不平度见图2（a）所示。 或者 式中－为45°方向上的影像高度。 影像高度是用目镜测微器来测量的，由于测微器的十字刻线与测微器读数方向成，所以，当用十