基于扫描森林的BIST策略.pdfVIP

CN43-1258 TP ISSN 1007-130 X 计算机工程与科学 COMPUTER ENGI NEERI NG SCI ENCE 2005 年第 27 卷第 4 期 Vol. 27 No. 4 2005 文章编号: 1007 130X 2005 04 0036 04 基于扫描森林的 BIST 策略 BIST Techni C ue Based on the Scan Forest architecture 陈明静1 向 东2 CHEN Min g - i n g 1 XIANG Don g 2 ( 1. 清华大学微电子学研究所 北京 100084 : 2. 清华大学软件学院 北京 100084 ) ( 1. Institute of Microelectronics Tsin g hua universit y Bei in g 100084 : 2. school of soft ware Tsin g hua universit y Bei in g 100084 ) 摘 要:在本文中9我们提出了一种改进的扫描森林结构并将其运用到基于扫描的自测试中9目的是在保证故障覆盖 率的同时9将电路的扫描测试代价降低到非扫描可测试性设计的水平O为了构造这种适合于自测试(以下简称 BIST )的改 进的扫描森林结构9我们使用了三项技术C一种扫描触发器平衡分组策略\一种新的扫描树结构和一种新的扫描输入信号 处理办法O大量的实验结果表明9该方法与传统的基于扫描自测试方法相比9能获得更高的故障覆盖率O同时9改进的扫 描森林结构相比于原始的扫描森林结构[1 ]9能大幅度减少集成电路芯片的面积开销O Abstract I n t hi s p a p er we p r o p ose an i m p r oved scan f orest archit ect ure whi ch i s suit abl e f or scan based Built I n Self Test i n or der t o reduce t he cost of scan t esti n g t o t hat of t he non scan desi g n f or t est abili t y met hod . Some tech ni C ues are ado p t ed i n constr ucti n g t he i m p r oved scan f orest archit ect ure a scan f li p f l o p re g r ou p i n g strat e gy a ne w scan tree archit ect ure and a scan i n p i n handli n g met hod . Suf fi ci ent eX p eri mental result s show t hat t he p r o p osed BIST tech ni C ue out p erf or ms t he conventi onal t est p er scan BIST archit ect ure g reatl y b y achi evi n g bett er f ault covera g e and t hat t he i m p r oved scan f orest archit ect ure reduces t he area over head drasti call y co m p ared wit h t he ori g i nal one 1 . 关键词:扫描9自测试9扫描森林9扫描触发器重分组 Ke y words Scan testi n g BIST scan f orest scan f li p f l o p re g r ou p i n g 中图分类号: TN407 文献标识码: a 1 引言 基于扫描的 自 测 试 技 术 Scan Based BIST 通 常 被 划 分为两类 1 每个时钟周期测试一次 Test p er Cl ock 和每 个扫描周期测试一次 Test p er Scan 在 Test p er Cl ock BIST 中 一个测试向量的置入以及电路响应的接收和压缩 是在一个时钟节拍里完成