04-X射线物相分析要点.pptVIP

X射线物相分析要点 姜传海 上海交通大学材料科学与工程学院;X射线的衍射现象 X射线在晶体中的衍射，实质上是大量原子散射波互相干涉的结果。每种晶体所产生的衍射花样都是其内部原子分布规律的反映。 研究X射线衍射，可归结为衍射方向和衍射强度两方面问题。 衍射方向由晶胞大小、晶胞类型和位向等因素决定，衍射强度主要与原子类型及其在晶胞中位置有关。;衍射方向：是由布拉格方程方程所决定 式中d为晶面间距，θ入射线(或反射线)与晶面之夹角即布拉格角，2θ入射线与衍射线之间的夹角则为，λ辐射线波长，n 为整数即反射的级。;布拉格方程的应用 在实际应用中，如果知道其中二个参数，就可求出其余的一个参数。 用已知λ的射线分析未知试样，通过测量衍射角来求得试样的晶面间距d值，这就是常规衍射分析。 用一种已知面间距的晶体，反射从未知试样发射出的X射线，通过测量衍射角求得X射线波长λ值，这就是X射线光谱学或称波谱分析。;衍射强度 布拉格方程只是解决了衍射方向问题，对衍射强度的描述却无能为力。 获得严格物理意义的辐射强度比较困难，通常所说的强度均是指相对强度。 X射线照射到晶体后，在不同衍射方向上强度将发生变化，这种变化不但受晶体结构影响，而且与原子在晶胞中位置及原子种类有关。 晶体的衍射强度，归根结底是X射线受众多电子散射后的干涉与叠加结果。 ;实际多晶体的衍射强度公式 从单电子对电磁波的散射，推演到单原子、晶胞和理想晶体散射，以及实际晶体的衍射强度。 ; 在实际工作中，只需要了解各衍射线的相对强度，故可简化为 式中V被照射多晶材料体积，Vc晶胞体积，Phkl为(hkl)晶面多重因子，|Fhkl|2为(hkl)晶面结构因子，Lp为角因子或洛伦兹-偏振因子，A吸收因子，e-2M温度因子。;衍射方法 与其它物理测试方法相比，X射线衍射是非破坏性的，实验结果准确可靠，真正代表检测区域的平均效果。 而且对试样没有太严格的要求，可采用粉末或块状试样，可直接对小型零件进行测量。 根据记录衍射信息的方式，X衍射方法可分为照相法和衍射仪法。 衍射仪法在近几十年中得到了很大发展，出现了粉末衍射仪、四圆及微区衍射仪等，在大多数场合下取代了照相法。;测量条件 在X射线衍射分析前，必须对仪器进行精心调整和校准，以获得最大衍射强度、最佳分辨率和正确的角度读数。 根据实验对象及目的，选择合适测量条件。;试样要求 X射线衍射分析中，常见试样包括块状试样和粉末试样，可能是晶体也可能是非晶体，可能是多晶也可能是单晶。 块状试样并没有严格的要求，但尺寸太小时衍射信号较弱。 当块状试样织构严重时，对其相互垂直的三个表面分别分析，以得到较全面的实验结果。 试样被测表面平整和清洁。; 粉末试样也没有严格要求，但试样太少时衍射信号较弱，一般需要20×18×0.5mm3体积。 定性分析时粒度应小于40μm即350目，定量分析时粒度应小于10μm。 简单确定粒度方法，捏住少量粉末碾动，手指间没有颗粒感觉，此时粒度大致10μm;影响测量结果的因素 光源、狭缝、测量及记录系统等。 光源包括靶材类型与焦点尺寸。 为减少试样荧光辐射，靶材选择是Z靶= Z样+1或Z靶 Z样，Z是原子系数。 如果试样中含有多种元素，应在含量较多的几种元素中以原子序数最轻的元素来选择靶材。 ; 在实际工作中，靶材选择还必须顾及其它方面。其中Cu靶是用途最广的靶材。 靶的表观焦点尺寸与射线的取出角有关。较小的取出角，表观焦点尺寸较细，可以提高射线分辨率，但此时的辐射效率即强度较低。 兼顾到分辨率与辐射强度，通常在衍射实验时选择为6o的取出角。;管电压与管电流 当管压较低时特征X射线强度近似与其平方呈正比，当管压超过激发电压5～6倍时射线强度的增加率下降。 管电压较低时特征X射线与连续X射线强度之比，随管压的增加接近一个常数，但当管压超过激发电压4～5倍时反而变小。 常用Cu靶最佳管电压范围为35～45kV; 管电流的影响相对简单，由于X射线辐射强度与管电流呈正比。 可通过调节管电流来增加辐射线输出功率，但最大负荷不允许超过额定功率的80%，否则会影响X射线管的使用寿命。;各类狭缝 衍射仪中有三个狭缝是经常更换，分别为发散狭缝(DS)、防散射狭缝(SS) 及接收狭缝(RS)。 发散狭缝，决定了射线水平方向的发散角，限制试样被照射的面积。 在定性分析时常选用1o发散狭缝，在低角衍射时可使用1/2o或1/6o发散