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实验01 门电路逻辑功能及参数测试
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课 题门电路逻辑功能及参数测试需2课时教 学
目 的
要 求1.掌握门电路集成芯片的引脚排列顺序的识别方法;
2.掌握门电路逻辑功能测试及芯片好坏检测的方法;
3.了解门电路的主要参数含义及测试方法。教 学
重 点1.门电路集成芯片的逻辑功能测试;
2.门电路集成芯片主要参数测试;教 学
难 点门电路电压传输延迟时间tpd测试教案编写日期年 月 日教 学 内 容 与 教 学 过 程 提示与补充教学组织:
一、课堂组织考勤,分组。
二、实验前言
《数字电子技术》课程是继《电路分析》和《模拟电子技术》之后的又一门专业基础课,它是今后学好专业课程的基石,通过《数字电子技术实验》同学们能够对理论知识进一步加深理解,提高理论联系实际、综合运用所学理论知识的能力。
三、新授课内容,逐条指出
1.门电路集成芯片的引脚排列顺序识别;(掌握)
2.TTL门电路分类;(了解)
3.TTL集成电路使用规则及注意事项;(重点)
4.COMS集成电路分类;(了解)
5.COMS集成电路使用规则及注意事项;(重点)
6.TTL门电路逻辑功能测试;(重点)
7.TTL门电路主要参数测试;(难点)
四、实验小结
1.TTL、COMS集成电路使用规则及注意事项;
2.TTL基本门电路的逻辑功能;
五、学生需要完成实验报告
完成讲义“实验报告要求”中的1、2、3、4、5项内容。
本次实验基本任务
门电路集成芯片的引脚排列顺序的识别
2.TTL集成门电路分类
TTL 门电路分74商用系列和54军用系列两大类,每类都有若干个子系列。两者具有完全相同的电路结构和电气参数,差别仅为工作温度范围和电源电压范围。54系列的工作温度范围为-55℃~+125℃,电源电压范围为5V±10%。74系列的工作温度范围为0℃~70℃,电源电压范围为5V±5%。
3.74系列集成电路大致可分为7大类:?
1)74××系列;
2)74H××系列?;
3)74S××系列;
4)74AS××系列;
5)74LS××系列;
6)74ALS××系列;
7)74F××系列;
4.TTL集成电路使用规则
1)74LS系列的TTL集成电路对电源电压要求严格,正常工作电压为5V±10%,超过5.5V将损坏芯片,低于4.5V将不能正常工作,且电源极性不能接反。
2)TTL电路的逻辑高电平“1”的电压大于2.4V,低电平“0”的电压小于0.8V。
3)对于闲置的输入端处理方法:
(1)一般小规模TTL集成电路的输入端,实验时允许悬空处理,但容易受外界干扰导致逻辑功能紊乱,对于输入端有较长连线,中规模以上的TTL电路或元件密度大而复杂的电路,为了提高电路的抗干扰性能,所有闲置的输入端必须按逻辑要求接入电路,不能悬空。
(2)将多余的输入端直接接+5V(或通过1~10K的电阻后再接到+5V)上,或直接接地(也可通过680Ω~2KΩ的电阻接地,当所接电阻大于4.7k时,输入端相当于置“1”)。
(3)将多余的输入端与使用的输入端并联。
以上方法均应按电路的逻辑要求进行选用。
4)输出端不允许直接接地或直接接+5V电源,否则损坏芯片,有时为了获得较高的输出电平,允许输出端通过3~5.1k的电阻接至+5V上。
5)输出端不允许并联使用(OC门和三态门除外)。
6)LS系列逻辑门电路的高电平驱动能力一般为5mA,低电平为20mA。
5.CMOS集成门电路分类
1)CD40系列(基本系列):速度慢;
2)CD45系列:
3)HC/HCT系列:
4)AHC/AHCT系列
5)LVC/ALVC系列:
6.CMOS集成电路使用规则
1)VDD接电源正极,VSS接电源负极(或地┻),不允许接反。CD4000系列的电源电压范围为+3V~18V内,一般选择+5~+15V。
2)所有输入端一律不得悬空,闲置输入端的处理方法:
(1)按照逻辑要求,直接接VDD或者VSS;
(2)工作频率低的电路中,允许输入端并联使用;
(3)输出端不允许直接接VDD或VSS,否则损坏芯片;
(4)改接电路,拔插连线、芯片时,应断开电源,不允许带电操作;
(5)焊接、测试时,设备应有良好的接地,存储容器应有良好的静电屏蔽和导电性能。
3)一般CMOS的高低电平均驱动能力为5mA。
7.TTL门电路的逻辑功能测试
1)与门逻辑功能测试
(a)引脚功能及排列 (b) 实验电路连接图
图1.2 74LS08四-2输入与门引脚功能及测试电路连接图
(1)按照图1.2(b)接线,与门的两个输入端A、B分别接到两个逻辑开关的输出插口,开关向上,输出逻辑“1”,向下为逻辑“0”,与门的输出端Y接逻辑电
平指示
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