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硬盘振动测量的讨论 摘要 本文研究的是采用二光束法测量硬盘振动情况的测量原理问题。 对于问题1），在镜面反射现象中存在两个几何关系：（1）光的入射角与反射角相等，法线垂直于镜面，光源与自身的像关于镜面对称；（2）入射光线与反射光线构成的平面与镜面本身垂直。这样两个关系对应两个数学方程，我们知道，，方程个数可解出对应个数的未知数，所以，一束光线解不出三个未知数。而两束光对应四个方程，即可求出盘片局部方程中的a，b，c 表达式。两束光即可测量出振动情况，故无需第三束光线，因此这种测量技术采用两束光线。 对于问题2），入射光线的方向在实际测量过程是已知的，而接受屏上又读出反射光线照射点（称接收点）的坐标位置。即入射光线的方向向量以及光源和接收点连线的方向向量已知。根据上述的几何关系（2）可知这两个向量叉乘与被测物表面的法向量的内积为零，这样得到两个与c无关的方程式求得a，b值。再利用光源与自身的像关于镜面对称这一几何关系做光源关于盘片表面的对称点，则对称点在反射光线的延长线上，用向量平行列方程并且代入所求a，b的值即可得到c关于已知量的表达式。 对于问题3），给光线的方向向量以及a,b,c赋值，通过查资料，进一步确定c,D的值，通过计算机模拟仿真，求出对应的两点坐标值。再将取不同数量级的值，代入问题（2）中求得的a,b,c的表达式中，得到a,b,c的值。最后将赋予a,b,c的值与求得值进行比较，分析得出接受屏分辨率（测量精度）对盘片局部表面方程的影响情况。 关键词：反射定理，向量平行，计算机模拟仿真. 1 问题重述 有一种新技术测量物体表面获得振动情况，是利用类似镜面反射的几何光学原理工作的：选用同一点光源发出两束光线，照射有反射能力的被测物体平面，产生的两条反射光线再照射到水平放置的接受屏上。接受屏能够检测出光线照射点在接受屏平面上的坐标位置，问题是怎样利用图2中O’x’y’平面的两个坐标值反算出被测物体当前的平面方程，就可利用平面方程的变化得到振动情况。 图1是用两条光线检测的原理图，点光源O为坐标原点，E1和E2是盘片瞬间位置的反射点，此时盘片局部表面方程为z=ax+by+(c+D)，其中a,b,c为未知量，由于硬盘在振动，平面就偏离了初始位置z=D(D0)；接受屏方程为z=h，其中h0为接受屏的高度，B1和B2是其上的照射点，这样利用它们确定、和获得盘片局部表面方程。 （本题作到确定出、和即可，不必分析振动情况） 图1 原理图 问题 1：请解释这种测量技术采用两束光线的原因。 问题 2：请建数学模型分析盘片局部表面方程的测量原理。 问题 3：试分析接受屏分辨率（测量精度）对盘片局部表面方程的影响。 2 问题分析 本题是一个典型的数学与物理紧密结合的问题，主要用来寻求解决实际问题的理论与简易方法。针对本问题，我们逐一寻找到 解决三个问题的方法。 针对为题（1），从三点来阐述本题测量技术采用两束光线的原因：1，采用一束光的局限性与不完整性；2，采用两束光恰能确定表面方程；3，采用三束光的冗余性。 针对问题（2），本问题牵扯到物理学中的光学问题，依据题中给出的条件分析，从物理学角度出发，运用光线折射的性质，辅以数学中平面与直线的计算公式，可以找到各种内在关系，从而求出盘片局部表面方程的测量原理。 针对问题（3），采用正向思维，即假定盘片平面方程已知，正向推导接受屏上两点坐再标结合题目中给出的提示，逐步去寻找可以解释接受屏分辨率对盘片局部表面方程的影响问题。 3 模型假设与约定 1 接受屏接受坐标准确； 2 磁盘表面光滑平整，无漫反射现象出现; 3 光源发出的光束非常细； 4 假设硬盘为刚体，自身无变形； 4 符号说明 被测物所在平面的法向量； 入射光线的方向向量； 入射光线的方向向量； 空间坐标原点到被测物平面的距离； 对称点到被测物平面的距离； 盘片表面上点坐标； 盘片表面上点坐标； 接受屏上点坐标； 接受屏上点坐标； 坐标原点关于被测物平面的对称点。 5 模型建立与求解 5.1问题（1）的分析 在解决本题目前，首先明确以下两个物理定理： 定理一:在镜面反射现象中，光的入射角与反射角相等，法线垂直于镜面； 定理二:镜面反射现象中，入射光线与反射光线构成的平面与镜面本身垂直。 其实以上两个基本定理用数学表达式表示出来就是两个方程。则可得出： 1）若只知其中一束入射光线，则只能得到两个方程，解不出三个未知数，即无法确定被测物体的表面方程； 2）若已知两束光线，可以通过两束直线组成四个方程，解得三个未知数的确定值，从而精确测定出物体的振动情况，确定其平面振动方程，得到振动情况。 3）因为该测量仪器利用两束光即可测量出振动情况，简单而方便，无需第三束光线。