带开孔的电子设备腔体耦合特性实验研究.pdfVIP

研究与 带开孔的电子设备腔体耦合特性实验研究 邓青林 ，王 辉 ，肖集雄 ，胡 新 (1．武汉理工大学理学院， 湖北武汉 430070；2．武汉大学电气工程学院， 湖北武汉 430070) 子设备在100MHz～1GHz频率范围内的耦合关系进行了实验研究，探讨了腔体内场强及腔体屏蔽效能随开孔尺 了入射波频率和谐振频率与屏蔽效能的关系。通过分析数据发现。对于不同的孔，腔体屏蔽效能的极小值点 出现在同一频段，并且腔体的谐振频率也落在该频段．采用函数拟合方法对该现象进行逼近。 关键词：屏蔽壳体：耦合场强：屏蔽效能 中图分类号：TD76 文献标识码：A 文章编号：1009—9492(2010)10—0051-03 1引言 连，分别沿 轴方向上和Y轴方向上以5ram进行取样，存 带开孔的电子设备屏蔽效能是电磁兼容领域中重要的 取相应的场强值。此时，场强探头通过光纤传输系统把数 研究内容。为了满足散热、通讯的要求，有时需要在电子 据传送给计算机，自动记录探头在每一个位置时场强探头 设备上开孔．但这破坏了电子设备屏蔽的完整性，电磁脉 的读数。本文采用多点平均法对实验数据进行处理，多点 冲很容易通过电子设备壳体上的开孔耦合进入屏蔽腔体 平均法是指在某一频率下。对屏蔽腔体内的平均场强进行 内，使得设备机箱的屏蔽性能下降。因此，如何有效地评 测试时．在该屏蔽腔体内的 轴方向上和Y轴方向上的线 估带开孔电子设备腔体的屏蔽效能具有理论和现实意义。 段．以5ram进行取样，并将该直线段上所有取样点在该 目前，开孔电磁耦合的研究方法多基于数值计算方面，例 频率条件下测得的场强值相加做平均，并将相加平均后得 出的结果作为腔体内的平均场强值。 如矩量法 …、时域有限差分法 [2 3以及多层快速多极子方 法 _3]，由于这些算法考虑的影响因素不够全面，得出的结 果具有一定的局限性．而早期的试验无法实现精确的测 量．使得实验结果和实际情况还有一定的偏差。 本文采用实验的方法．从实验角度研究屏蔽壳体的 孔缝耦合特性 ，对孑L缝在一定频域范围 (100MHz～ 1GHz)金属腔体内部耦合场强平均值以及腔体的屏蔽效 能进行了研究，重点探讨了矩形开孑L尺寸对腔体屏蔽效 能的影响。 2测试系统与实验方法 测试系统主要由高反射屏蔽室、机械式模式搅拌装置 图l 带开孔的电子设备物理 (两个)与控制器、场发射天线、场参考天线、三坐标场 强测试系统、安装有专用控制软件和数据处理软件的计算 机以及射频信号发生器SMID1、双通道功率计 NRVR、带 3实验结果与分析 宽功率放大器50WD1000组成。 3．1腔体内部的平均场强 本实验中屏蔽腔体由钢制材料制成 ，尺寸大小为 为分析电磁波经不同尺寸矩形开孑L耦合进入金属腔体 80cmx7Ocmx100cm，其物理模型如图1所示，将场强计探 内平均场强的情况，分别选取多组矩形孔缝。利用多点平 头置于腔体内．用光纤传输线与EMR一2009型电场探头相 均的处理方法．得出电场强度平均值。 国防科技重点实验室基金项目 (编号 9l4OC87O205O9O3) 收稿日期：2010—04一l0 [二] ]] 3．1．1不同长边矩形开孑L对应的场强 出现一个平均场强峰值，由图2可知，腔体的谐振频率位 选取各种不同长边矩形开孔的情况，采用多点平均法