基于椭偏光谱仪的石英波片光轴方位.pdfVIP

第33卷，第1期 光谱学与光谱分析 V01．33，No．1，pp275—277 20 1 3年1月 and January，2013 SpectroscopySpectralAnalysis 基于椭偏光谱仪的石英波片光轴方位探测 张蓓蓓，韩培高’，付世荣，朱久凯，闫珂柱’ 山东省激光偏光与信息技术重点实验室，曲阜师范大学激光研究所，¨J东曲阜273165 摘要波片的光轴方向是波片应用中最重要的参数之一。在椭偏光谱仪透射模式下，利用琼斯矩阵对波 片旋转过程中P和s两方向上位相的变化进行分析，设计了一种判断石英波片光轴方向的新方法。应用此 方法判断光轴方向，具有光路结构简单，检测速度快的特点，且具有很好的实用性。 关键词光谱；波片；光轴；相位差 中图分类号：0439文献标识码：A DOI：10．3964／j．issn．1000—0593(2013}01—0275—03 引 言 Data Polarizer Arm Acquisition Xelamp AnalyzingSpeetrograp Sample 随着偏光技术的发展，石英波片作为各类光学仪器的基 The of whichisusedtodetect Fig．1 principleopticalpath 0p’ 本器件，已经被广泛应用。光轴方向是波片的一个重要参 ticalaxisdirectionof the quartzcrystalby ellipsometer 量，波片在使用中必须先确定光轴方向。目前波片光轴方位 的判断方法有多种，例如：相位比较法[1]、相位调制法[z4]、 为进一步确定此时波片光轴方向为P方向或S方向，需 迈克尔逊干涉法[5]、旋转波片法[6]、菲涅尔菱体法[7]、调制 取出检偏器，调节起偏臂中起偏器起偏方向为45。，旋转波 光谱法等。相位比较法和相位调制法只能大概准确方位；迈 片，观察波片在P和S两方向上位相差的变化情况，根据相 克尔逊干涉法、旋转波片法、菲涅尔菱体法和调制光谱法能 位差变化情况的不同，判断波片光轴的具体方向。 够准确判断光轴方位，但是过程比较麻烦。 、J 基于椭偏光谱仪的水平透射模式，利用琼斯矩阵对波片 ／，——＼ 旋转过程中P和S两方向上位相差的变化进行分析，设计了 ／、 一种判断石英波片光轴方向的新方法。应用此方法判断光轴 方向，具有光路结构简单，检测速度快的特点，并且具有很 ( 、、、、、、、、 ，， 好的实用性。 t 、霸