基于电子散斑干涉术的残余应力测量.pdfVIP

108 传感器与微系统 (TransducerandMicrosystemTechnologies) 2010年 第29卷 第 1期 基于 电子散斑干涉术的残余应力测量 陈玲玲，杨吟飞，何 宁，李 亮 (南京航空航天大学机 电学院，江苏 南京 210016) 摘 要：提出一种电子散斑干涉术与钻孔法相结合的残余应力的测量方法，设计 了一种测量残余应力的 装置。该装置采用半导体激光器实现 了紧凑的双光束干涉光路 ，从而使该装置体积小便于安装和测量。 装置中的整个光路和CCD布置在倾斜平面上，避开钻孔方向，实现了残余应力的实时测量。通过试验对 单向压缩残余应力进行了测量，对比了试验结果与实际值，证明了该方法的可行性。 关键词：电子散斑干涉；钻孑L法；残余应力 中图分类号：TP274 文献标识码：A 文章编号：1000-9787(2010)01--0108-03 Residualstressmeasurementbased 0n electronic specklepattern interferometry CHEN Ling-ling，YANG Yin-fei，HENing，LILiang (CollegeofMechanicalandElectricalEngineering，NanjingUniversityof AeronauticsandAstronautics，Nanjing210016，China) Abstract：A residualstress measurementmethod which combines electronic speckle pattern interferometry (ESPI)techniquewiththehole—drillingmethodisproposed，andasetofdeviceformeasuringresidualstressis designed．Inthedevice，semiconductorlaserisusedtoproduceacompacttwo—beam interferenceopticalpath whichmakedthedevicesmallinsizeandconvenientforinstallationandmeasurement．Theoptical pathandCCD inthefacilityareinstalledonaclinoplanetoavoidthedrillingdirection．andtorealizereal—timemeasurementof residualstresses．Experimentshavebeencarriedouttomeasuresingle—directionresidualcompressstress，andthe methodhasbeenprovedtobefeasiblebycomparingexperimentresultswithactualvalues． Keywords：electronicspecklepattern；hole—drillingmethod；residualstresses 0 引 言 已经开展了电子散斑技术的研究，张熹研究员对三维电子 残余应力的测量一直都是力学研究中的重要课题之 散斑干涉技术在测量残余应力中的应用进行了研究。但 一 。 各种机械制造工艺 (如 ，铸造、切削、焊接 、热处理等) 是 ，这些研究都未能实现残余应力的实时测量 。 都会使工件内部出现不同程度的残余应力，特别是对于航 本文简述了电子散 斑干涉法测量 面 内位 移和钻孔 空薄壁件，由于其结构复杂 、精度要求高 ，残余应力的存在 法释放残余应力