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第 35 卷第 8 期 光电工程 Vol.35, No.8
2008 年 8 月 Opto-Electronic Engineering Aug, 2008
文章编号:1003-501X(2008)08-0107-05
红外焦平面阵列盲元检测算法
隋修宝,陈 钱,顾国华,陆红红
( 南京理工大学 电子工程与光电技术学院,南京 210094 )
摘要:为提高红外焦平面阵列盲元的定位精度,分析了盲元的产生机理,指出了探测器所处环境温度对探测元的
探测能力以及焦平面阵列的盲元数量和位置分布的影响,提出了一种考虑环境温度差异的红外焦平面阵列盲元检
测算法,精确定位了不同温度范围内的盲元位置。实验结果表明,该算法可将随环境温度改变而改变的盲元位置
信息准确检测出来。
关键词:红外焦平面阵列;红外探测机理;盲元检测;环境温度差异;盲元变化
中图分类号:TN215 文献标志码:A
Algorithm of Blind Pixels Detection for IRFPA
SUI Xiu-bao,CHEN Qian,GU Guo-hua,LU Hong-hong
( School of Electronic Engineering and Optoelectronic Technology, NUST, Nanjing 210094, China )
Abstract : In order to improve the positioning accuracy of blind pixels in Infrared Ray Focus Plane Array (IRFPA), the
principle of blind pixels appearance was analyzed in this paper. The environment temperature affected the detection
capability of effective pixels, quantity and position of blind pixels. Therefore, the algorithm of blind pixels detection for
IRFPA considering different environment temperature was proposed. The purpose of the algorithm was to position blind
pixels and get quantity of blind pixels in different temperature ranges accurately. The results of experiment indicate that
the algorithm can detect the changes of the positions of blind pixels with the environment temperature.
Key words : IRFPA; principle of infrared detection; blind pixels detection; environment temperature difference; blind
pixels changing
1 引 言
近年来,红外焦平面阵列(IRFPA)作为新一代红外探测器件提高了红外系统的空间分辨率和系统灵敏
度,其应用日趋广泛[1-2] 。但由于制造材料、工艺等因素的影响(如材料的不均匀性、掩模误差、缺陷等) ,
红外焦平面阵列器件存在不可避免的非均匀性,而在不均匀的极端情况下,部分探测器元甚至失去探测能
力,成为盲元[3-4] 。盲元的数量和分布对红外图像的信噪比和
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