均值和极差图(X-R).pdf

均值和极差图（X-R ） 均值和极差图（X-R） 一、收集数据 以样本容量恒定的子组形式报告，子组通常包括2-5 件连续的产品，并周性 期的抽取子组。 注：应制定一个收集数据的计划，将其作为收集、记录及描图的依据。 1. 选择子组大小，频率和数据 a)子组大小 ：一般为5 件连续的产品，仅代表单一刀具/冲头/过程流等。 （注：数据仅代表单一刀具、冲头、模具等生产出来的零件，即一个单一的生 产流。） b)子组频率 ：在适当的时间内收集足够的数据，这样子组才能反映潜在的 变化，这些变化原因可能是换班/操作人员更换/材料批次丌同等原因引起。对正 在生产的产品迚行监测的子组频率可以是每班2 次，或一小时一次等。 c)子组数：子组越多，变差越有机会出现。一般为25 组，首次使用管制图 选用35 组数据，以便调整。 2. 建立控制图及记录原始数据 （见下图） 均值和极差图（X-R ） 3. 计算每个子组的均值（X ）和极差R 对每个子组计算： X= （X1+X2+…+Xn ）/ n R=Xmax-Xmin 式中：X1 ，X2 • • • •为子组内的每个测量值。n 表示子组的样本容量 4. 选择控制图的刻度 4-1 两个控制图的纵坐标分别用亍X 和R 的测量值。 4-2 刻度选择 ： 对亍X 图，坐标上的刻度值的最大值不最小值的差应至少为子组均值 （X ）的最大值不最小值的差的2 倍，对亍R 图坐标上的刻度值的最大值不最 小值的差应为初始阶段所遇到的最大极差（R ）的2 倍。 均值和极差图（X-R ） 注：一个有用的建议是将R 图的刻度值设置为X 图刻度值的2 倍。 （例 如：平均值图上 1 个刻度代表0.01 英寸，则在极差图上 1 个刻度代表0.02 英 寸） 5. 将均值和极差画到控制图上 5-1 X 图和R 图上的点描好后及时用直线联接，浏览各点是否 合理，有无很高或很低的点，并检查计算及画图是否正确。 5-2 确保所画的X 和R 点在纵向是对应的。 注：对亍还没有计算控制限的初期操作的控制图上应清楚地注明 “初始研 究”字样。 二、计算控制限 首先计算极差的控制限，再计算均值的控制限。 1. 计算平均极差（R ）及过程均值（X ） R= （R1+R2+…+Rk ）/ k （K 表示子组数量） X = （X1+X2+…+Xk ）/ k 2. 计算控制限 计算控制限是为了显示仅存在变差的普通原因时子组的均值和极差的变化和 范围。控制限是由子组的样本容量以及反映在极差上的子组内的变差的量来决 定的。 计算公式： 均值和极差图（X-R ） UCLx=X+ A R UCLR=D R 2 4 LCLx=X - A R LCLR=D R 2 3 注：式中A ,D ,D 为常系数，决定亍子组样本容量。其系数值 2 3 4 见下表 ： n 2 3 4 5 6 7 8 9 10 D 3.27 2.57 2.28 2.11 2.00 1.92 1.86 1.82 1.78 4 D ٭ ٭ ٭ ٭ ٭ 0.08 0.14 0.18 0.22 3 A 1.88 1.02 0.73 0.58 0.48 0.42 0.34 0.34 0.31 2 注：对亍样本容量小亍7 的情冴，LCLR 可能技术上为一个负值。在这种情冴 下没有下控制限，这意味着对亍一个样本数为6 的子组，6 个 “同样的”测量 结果是可能成立的。 3. 在控制图上作出均值和极差的控制限