半导体器件的加速寿命试验评价方法-cn教案分析.pdfVIP

半导体器件的加速寿命试验评价方法 山本 敏男 持续努力提高元器件及材料可靠性的结果，诞生了许多的 但是，所谓加速试验这种试验方法，果真就加速了 高可靠性产品。由此减少了故障发生的机会，而具体作可 吗？而加速又是针对什么，加速了什么？是有必要明确它 靠性评价试验则需要很长时间。人们希望作在更短时间获 的基准。从结论来讲，实施加速试验是以已经可以预测试 得有效结果的评价试验，即加速试验。但是所谓加速试验 验结果，即已知故障主要原因及故障机理为大前提。由此， 并非单纯加强应力缩短时间即可，同时它也不是全能的试 首次加速和加速系数都是有其意义的。反过来这些关系未 验。理解了这一点，有效利用这种手法与否，其可靠性评 明确，却突然将产品曝露在严酷条件，尽管在短时间使其 价的结果会有天壤之别。 发生故障那也仅仅是破坏而已。 在此以电气、电子设备及部件为例，就有关加速试验的概 在可靠性领域进行的加速试验已如您所知，汇总如 要及思路加以说明。