半导体技术教案分析.pdfVIP

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  • 2017-06-10 发布于湖北
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组成。该文主要讨论了采用重心估算(CCP )傅立叶相位偏转法(FPS ) 结果显示信号中的直流分量和背景噪声对 CCM 方法的仿真精度的影响 计算光点的位置。此外,为了验证上述理论的可行性,该研究利用计算 要比FPS 大;当光斑分别为艾里图样和高斯图样时,CCM 方法和FPS 方 机软件模拟并讨论了噪声信号对上述 2 种光电估算法的影响。数值仿真 法的计算精度基本相同。 图13 表3 参9 7、半导体技术 O471,TN301 2009040640 Schrodinger 方程化为Mathieu 方程,根据Bloch 定理讨论了系统能量分布, SiC 中基态施主能级分裂对杂质电离的影响/ 戴振清,杨克武,杨瑞霞 并用摄动法求解了方程的低阶不稳定区及其禁带宽度,系统自动呈现出 (河北科技师范学院)// 半导体技术. ―2009 ,34 (3 ). ―232~235. 了能带结构,再现了带电粒子同掺杂超晶格相互作用的周期性特征。同 对 SiC 中基态施主能级分裂对杂质电离的影响,与温度、掺杂浓度和杂 时,由于不稳定区的宽度与粒子质量、势阱宽度和深度

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