X射线荧光光谱法测定铁矿石中主次成分.pdfVIP

, 2009, 29( 12) : 21-24 Metallurgical Analysis, 2009, 29( 12) : 21-24 : 1000- 7571(2009) 12- 0021- 04 X ( , 100081) : 采用玻璃熔片法制样, 建立测定铁矿石中TFeSiO2 A l2 O CaOMgOMnOK2 O TiO2 PS 等主次成分的X 射线荧光光谱分析方法确定 仪器最佳参数, 采用系列标样建 立 校准曲线, 以数学法校正基体效应对稀释比熔样时间等进行 探讨, 结果表明, 试样和 熔剂的质量比以1 B 15熔样时间以15 min 为好, 所得试样在熔剂中的分散度( 浓度) 适当, 可 同时适合试样中高低含量组分的测定采用熔融法分解试样的方法有效地消除 试样的粒 度效应, 精确度试验表明, 待测元素的相对标准偏差在 01 10%~ 71 14% 之间, 能满足铁矿石中 各元素的检测要求 : X 射线荧光光谱; 玻璃熔片法; 铁矿石; 主次成分 : O6571 4 :A , , X , , , , , , 1 , , , 11 1 RIX 000 X ( , kW X ) , 650 e 45 min[ 16] 112 X , , , [ 1- 14] X , , : X 50 kV/ 50 , X , mA0 mm , 1 , 113 61750 g , 01400 0 g 01050 0 g [ 15] , 11000 0 g Pt-Au , X , , 700 e 10 min, , 1 150 e 10 ( 200 g/ L) , , , 1 150 e , 10 min, , , 5 min, , : 2009- 01- 07 : ( 1981- ) , , , ; E-mail: vickiycsse@ 126. com