第八篇:金属化.pdf

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第八章:金属化 1 8.1 引言 2 3 4 8.2 金属淀积系统  金属沉积系统: 1. 蒸发PVD 2. 溅射 3. 金属CVD 4. 铜电镀 5 8.2.1 蒸发工艺原理  蒸发是在高真空中,把坩锅中的固体成膜材料加热 并使之变成气态原子撞击到硅片表面凝结成膜。  蒸发的工艺目的 在器件晶片上沉积金属膜以形成金属化电极结构。  成膜材料的加热方式:蒸发器分为电阻加热、电子 束加热、高频感应加热等三种。在蒸发工艺中,本 底真空通常低于10-6Torr 。 6  简单的蒸发系统 7  电子束蒸发是电子束加热方式的蒸发,是在高真空 中,电子枪发出电子经系统加速聚焦形成电子束、 再经磁场偏转入射到坩锅的成膜材料上加热,并使 之变成气态原子沉积到硅片上的物理过程。  在蒸发技术中,电子束蒸发占主流。 8  电子束蒸发系统的组成: 1. 高压电源系统 2. 真空系统 3. 电子加速聚焦偏转系统 4. 工艺腔 5. 水冷坩锅系统(通常为带旋转的四坩锅) 6. 载片架 9  电子束蒸发系统 电子束蒸发系统 10  电子束蒸发过程  电子束蒸发的3个基本步骤: 1. 在高真空腔中,电子枪发射的电子经加速获得足够 的动能并聚焦形成电子束。 2. 电子束经磁场偏转,向成膜材料轰击加热并使之蒸发 3. 成膜材料蒸发出的原子或分子在高真空环境下的平均 自由程增加,并以直线运动形式撞到硅片表面凝结形 成薄膜。 11  蒸发的优点: 1. 金属膜沉积速率高,常用于功率器件的厚金属化 电极(厚度达到5.0μm )  蒸发的缺点: 1. 台阶覆盖能力差 2. 不能沉积金属合金  正因为蒸发的台阶覆盖能力差缺点,在大规模集 成电路制造中,蒸发被溅射所替代。 12 8.2.2 溅射工艺原理  溅射 :是在高真空下,利用高能粒子撞击具有 高纯度的靶材料表面,撞击出的原子最后沉积在 硅片上的物理过程。  在溅射工艺中,本底真空通常低于10-7Torr ,工 作真空通常为10-3Torr左右。高能粒子通常选用 惰性气体氩Ar离子,氩离子不与其它物质发生化 学反应,且是重离子获得的能量

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