控制系统仿真与CAD试实验-实验三和实验四.docVIP

实验三 采样控制系统的数字仿真 一、实验目的 1. 熟悉采样控制系统的仿真方式； 掌握采样控制系统数字仿真的程序实现 二、实验内容 某工业系统的开环传递函数为，要求用数字控制器D(z)来改善系统的性能，使得相角裕度大于，调节时间小于1s(2%准则)。 1. 绘制碾磨控制系统开环根轨迹图、Bode 图和奈奎斯特图，并判断稳定性； 判断其稳定性，可根据奈奎斯特图，进行判定，其原理为： Z＝P-2N Z是闭环控制系统的特征方程在右半s平面上根的个数。 P是开环传递函数在右半s平面上的极点数。 N是当角频率由ω＝0变化到ω＝+∞时 G（jω）的轨迹沿逆时针方向围绕实轴上点(-1，j0)的次数。奈奎斯特稳定判据还指出：Z＝0时，闭环控制系统稳定；Z≠0时，闭环控制系统不稳定。 G=zpk([],[0 -5],10) sisotool(G) //点击“Analysis”下的“Closed-Loop Bode”，出现LTI Viewer for SISO Design tool margin(G) //点击图标“Data Cursor”，点击交叉点，出现相关参数。 2. 当控制器为，试设计一个能满足要求的控制器（要求用根轨迹法和频率响应法进行设计）； 根轨迹法和频率响应法是常用的两种重要的校正方法。 调节前： Gs=tf(10,[1 5 0]); Close_S=feedback(Gs,1); Step(Close_S,b); hold on 设计前截止频率为1.88rad/s,相角裕度为69.5°（第一问中） （1）进行根轨迹校正： a=6.512，b=11.499（a表示零点，b表示极点） 检验性能： Ds=tf(10*[1 6.512],[1 11.499]); Gs=tf(10,[1 5 0]); Close_S=feedback(Ds*Gs,1); Step(Close_S,b); hold on G=zpk([-6.512],[0,-5,-11.499],10); margin(G); G=zpk([-6.512],[0,-5,-11.499],100); margin(G); （2）频率校正： 要求：静态速度误差为20，相角裕度不小于45°，调节时间小于1s（2%）。 a.根据静态误差指标确定开环增益 b.据确定的增益 K ，画出增益经调整后的未校正系统的Bode图 G=zpk([],[0,-5],100); margin(G); c. 计算为满足设计要求所需增加的相位超前角度 从图可知为满足设计要求，还须25度左右的超前相角。即令 d. 计算 e. 选定最大超前角发生频率 因为校正环节在最大超前相角处有 10log a 的幅值提升，所以把 f.据式计算超前环节的时间常数因子 T 和校正环节的交接频率， h. 对以上设计所得进行检验，看是否满足设计要求。 i．性能验证： Ds=tf(24.638*[1 7.65],[1 18.836]); Gs=tf(10,[1 5 0]); Close_S=feedback(Ds*Gs,1); Step(Close_S,b); hold on G=zpk([-7.65],[0,-5,-18.836],240.638); margin(G); 3.将采样周期取为，试确定与对应的数字控制器（要求用多种方法进行离散化，并进行性能比较）； （1）选用根轨迹所得到的控制器函数： （2）采用脉冲响应不变法，零阶保持器法，一阶保持器法，双线性变涣法，零极点匹配方法确定数字控制器Gc（z） Gc=zpk([-6.512],[-11.499],10); Gimp=c2d(Gc,0.02,imp) %脉冲响应不变法 Gzoh=c2d(Gc,0.02,zoh) %零阶保持器 Gfod=c2d(Gc,0.02,fod) %一阶保持器 Gtustin=c2d(Gc,0.02,tustin) %双线性 Gmatched=c2d(Gc,0.02,matched) %零极点匹配方法 G0=zpk([],[0 -5],10);Gc=zpk([-6.512],[-11.499],10); G=series(G0,Gc); G1=c2d(G,0.02,zoh);%零阶保持器 G2=c2d(G,0.02,fod);%一阶保持器 G3=c2d(G,0.02,tustin); %双线性 G4=c2d(G,0.02,matched);%零极点匹配方法 G5=c2d(G,0.02,imp);%脉冲响应不变法 Gk1=feedback(G1,1);Gk2=feedback(G2,1); Gk3=feedback(G3,1);Gk4=feedback(G4,1); Gk5= feedback(G5,1); f