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仪器分析03原子吸收光谱与原子荧光光谱.ppt
第三章 原子吸收光谱与原子荧光光谱 原子吸收分光光度法是基于从光源辐射出待测元素的特征谱线通过样品的蒸气时,被蒸气中待测元家的基态原子所吸收,根据特征谱线的光被样品的吸收程度,来测定出样品中待测元素含量的方法。当原子被外界能量(热能、电能、光能等)所激发时,最外层电子吸收一定的能量,从基态跃迁到较高能级上,而使原子处于激发态,称为激发态原子。但这种处于较高能级的电子是不稳定的,在极短的时间内(约10-8s),以某一波长的光辐射出原吸收的能量,同时又跃回到原来的能级上。 第一节 基本原理 一. 共振线和吸收线 原子受外界能量的激发,其外层电子可跃迁到不同的能级,因此有不同的激发态。电子从基态跃迁到能量最低的激发态(称为第一激发态)时要吸收一定频率的光。当它再跃回基态时,则辐射出同样频率的光(谱线),这种谱线称为共振发射线(简称为共振线)。 第三节 原子吸收光谱法定量分析 原子吸收光谱法是一种元素定量分析方法,它可以用于测定60多种金属元素和一些非金属元素的含量。 一、 定量分析方法 使用标准加入法应注意以下几点: ①??? 测元素的浓度与其对应的吸光度应呈线性关系 ②??? 为了得到较为精确的外报结果,最少应采用四个点来作外推曲线,并且第一份加入的标准溶液的浓度与试样溶液的浓度应当接近。这可通过试喷试样溶液和标准溶液,比较两者的吸光度来判断 ③??? 本法只能消除基体干扰,而不能消除背景吸收的影响 ④??? 如形成斜率太小的曲线,容易引起较大的误差。 标准加入法比较麻烦,适用于基体组成未知或基体复杂的试样的分析。 3. 浓度直读法:浓度直读法是在工作曲线的范围内,应用仪器中的标尺扩展或数字直读装置进行测量。 例如,将5mg/L溶液的吸光度值调为5.00,同时测定试样溶液,若试样溶液的吸光度指示为2.30,则表示待测元素的浓度为2.30g/L。 这种方法省去了绘制标推曲线等手续,分析速度快。但在使用此法时必须使试样溶液的浓度在工作曲线的范围之内,且要用标准溶液反复校准,同时做2—3次的读数,求平均值,以取得较为准确的结果。 二、干扰及其消除 (一)谱线干扰: 如:在Ni的分析线232.0nm附近还存在231.6nm的谱线, 如:用308.22nm的谱线测定铝时,如果存在钒,钒对308.21nm的谱线要产生吸收, (二)背景吸收:由于原子化器(火焰和石墨炉)中存在的气体分子和盐类所产生的吸收以及存在的固体颗粒对光的散射引起的干扰,叫背景吸收。 1)邻近线背景校正 用分析线测量原子吸收与背景吸收的总吸光度,因非共振线(邻近线)不产生原子吸收 用它来测量背景吸收的吸光度。两者之差值即为原子吸收的吸光度。 因为共振线(此时为分析线)的总吸光度AT包括基态原子的吸收A和背景吸收AB,即AT=A+AB 通过测量共振线旁的“邻近线”的吸收,得到AB 此时得到净吸收度A=AT-AB 2)连续光源背景校正(氘灯或氢灯校正法 ) 先用锐线光源测定分析线的原子吸收和背景吸收的总和。再用氘灯在同一波长测定背景吸收(这时原子吸收可忽略不计)计算两次测定吸光度之差,即为原子的吸光度。 (三)化学干扰:化学干扰是指在溶液中或气相中由于待测元素与其它组分之间的化学反应而引起的干扰。 1.加入释放剂:在测定时加入一种能与干扰组分生成更稳定或更难挥发化合物的试剂,而使待测元素释放出来,从而消除干扰。 如:在测定钙时,加入锶,它能与磷酸根形成更稳定的化合物而使钙释放出来。 2.加入保护剂:加入一种能与待测元素生成稳定增长化合物的试剂,使得待测元素不与干扰组分反应。而生成的化合物又很容易挥发和原子化,对测定不干扰。如:测定钙时,加入EDTA使其生成稳定化合物CaY,CaY又很容易挥发和原子化,从而消除了磷酸根对钙测定的干扰。 1.结构:火焰原子化器的结构如图所示: a)喷雾器:将试样溶液转为雾状。 b)雾化室:内装撞击球和扰流器(去除大雾滴并使气溶胶均匀)。 c)燃烧器:产生火焰并使试样蒸发和原子化的装置。 2.原子化过程: MeX 脱水(溶液) MeX 蒸发(固体微粒) MeX 分解(气态分子) Me +X (基态原子) 3.火焰:火焰的作用是将试液中的待测元素原子化。 1)火焰的组成: 空气——乙炔火焰:温度在2500K左右; N2O——乙炔火焰:温度可达到3000K左右; 空气——氢气火焰:最高温度2300K左右。 2)火焰的类型: 贪燃:燃气较少,(燃助比小于化学计量,约为1比6),燃烧完全,温度较高 富燃焰:燃气较多。燃烧不完全,温度较低。但具有还原性 。 化学计量焰: (二)非火焰原子化
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