第五章锥光镜下晶体光学性质.pptVIP

晶体学 ⑶ 应用 A、因与二轴晶平行Ap切面的干涉图很难区分，故不能用来确定轴性。当轴性已知时，可确定切面方向。此切面上可以测出最大双折率和最高干涉色。 B、当轴性已知时，可测定光性符号。 测定方法和步骤： ①确定光轴方向。转动载物台，黑十字退出视域的方向或干涉色级序由中心向两边逐渐降低的方向。 ②使光轴与AA、PP成45°。 ③插入试板，观察整个视域干涉色升降变化，确定光性正负。 一轴晶平行光轴切面干涉图中光性符号的测定 1、垂直Bxa切面的干涉图 ⑴ 图像特点 当光轴面与上、下偏光振动方向之一平行时，干涉图由一个黑十字及“∞”字形干涉色圈组成。 三、二轴晶干涉图 转动物台，黑十字从中心分裂成两弯曲黑带。当Ap与AA、PP成45°时，两黑带顶点最远，顶点为光轴出露点并凸向Bxa出露点。顶点间距与“2V”成正比，连线为Ap迹线，通过Bxa出露点，垂直光轴面迹线方向为Nm方向。 在转动物台过程中，干涉色圈形状不变，但随着光轴出露点移动。 A、黑十字及弯曲黑带的成因： ⑵ 成因 B、干涉色圈的成因 由两光轴出露点向外，随入射光与光轴夹角的加大，其双折率和经历的路程都逐渐加大，R增加速度较快。 在光轴与Bxa之间，随着入射光与光轴夹角的加大，其双折率增大，但经历的路程减小，R增加速度较慢，而且到达Bxa光程差不再增加。 A B C D 当2V较大时，垂